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Duganapalli, Kishore [VerfasserIn] ; Anheier, Walter [AkademischeR BetreuerIn]; Anheier, Walter [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Fey, Görschwin [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Modelling and Test Generation for Crosstalk Faults in DSM Chips

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  • Medientyp: E-Book; Hochschulschrift
  • Titel: Modelling and Test Generation for Crosstalk Faults in DSM Chips
  • Weitere Titel: Modellierung und Testfallgenerierung für Übersprechenfehler in DSM Chips
  • Beteiligte: Duganapalli, Kishore [Verfasser]; Anheier, Walter [Gutachter]; Fey, Görschwin [Gutachter]
  • Erschienen: Bremen: Staats- und Universitätsbibliothek Bremen, 2016
  • Umfang: Online-Ressource
  • Sprache: Englisch
  • Identifikator:
  • Schlagwörter: Crosstalk, Test Pattern Generation, Signal Integrity, PODEM, Genetic Algorithm ; Hochschulschrift
  • Entstehung:
  • Hochschulschrift: Dissertation, Bremen, Universität Bremen, 2016
  • Anmerkungen:
  • Zugangsstatus: Freier Zugang