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  1. Alquier, Daniel; Van Haaren, Bart; Bergaud, Christian; Plana, Robert; Graffeuil, Jacques; Martinez, Augustin

    Influence of Depth Position of End-of-Range Defects on Current-Voltage and Noise Characteristics of Shallow (p+/n) Junctions

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    IOP Publishing, 1997

    Erschienen in: Japanese Journal of Applied Physics, 36 (1997) 4R, Seite 1999

  2. Graffeuil, Marcel; Girouy, Christiane; Grob, Robert; Casanovas, Joseph; Labarre, Jean-François; Mathieu, Jacques

    Une correlation entre les rendements radiochimiques en hydrogène et les énergies de liais ons calculées pour des familles d'alkènes, d'amines et d'alcools liquides

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    Elsevier BV, 1981

    Erschienen in: Journal of Molecular Structure: THEOCHEM, 85 (1981) 3-4, Seite 381-383

  3. Tartarin, Jean-Guy; Soubercaze-Pun, Geoffroy; Rennane, Abdelali; Bary, Laurent; Plana, Robert; De Jaeger, Jean C.; Germain, M.; Delage, Sylvain; Graffeuil, Jacques

    Using low-frequency noise characterization of AlGaN/GaN HEMT as a tool for technology assessment and failure prediction

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    SPIE, 2004

    Erschienen in: SPIE Proceedings (2004)