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  3. Pedretti, Giacomo [Verfasser:in]; Mannocci, Piergiulio [Verfasser:in]; Li, Can [Verfasser:in]; Sun, Zhong [Verfasser:in]; Strachan, John Paul [Verfasser:in]; Ielmini, Daniele [Verfasser:in]

    Redundancy and Analog Slicing for Precise In-Memory Machine Learning—Part I: Programming Techniques

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    IEEE, 2021

    Erschienen in: IEEE transactions on electron devices 68(9), 4373 - 4378 (2021). doi:10.1109/TED.2021.3095433

  4. Pedretti, Giacomo [Verfasser:in]; Mannocci, Piergiulio [Verfasser:in]; Li, Can [Verfasser:in]; Sun, Zhong [Verfasser:in]; Strachan, John Paul [Verfasser:in]; Ielmini, Daniele [Verfasser:in]

    Redundancy and Analog Slicing for Precise In-Memory Machine Learning—Part II: Applications and Benchmark

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    IEEE, 2021

    Erschienen in: IEEE transactions on electron devices 68(9), 4379 - 4383 (2021). doi:10.1109/TED.2021.3095430

  5. Milano, Gianluca [Verfasser:in]; Pedretti, Giacomo [Verfasser:in]; Fretto, Matteo [Verfasser:in]; Boarino, Luca [Verfasser:in]; Benfenati, Fabio [Verfasser:in]; Ielmini, Daniele [Verfasser:in]; Valov, Ilia [Verfasser:in]; Ricciardi, Carlo [Verfasser:in]

    Brain‐Inspired Structural Plasticity through Reweighting and Rewiring in Multi‐Terminal Self‐Organizing Memristive Nanowire Networks

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    Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2020

    Erschienen in: Advanced intelligent systems 2(8), 2000096 - (2020). doi:10.1002/aisy.202000096

  6. Wang, Yu-Hao [Verfasser:in]; Gong, Tian-Cheng [Verfasser:in]; Ding, Ya-Xin [Verfasser:in]; Li, Yang [Verfasser:in]; Wang, Wei [Verfasser:in]; Chen, Zi-Ang [Verfasser:in]; Du, Nan [Verfasser:in]; Covi, Erika [Verfasser:in]; Farronato, Matteo [Verfasser:in]; Ielmini, Daniele [Verfasser:in]; Zhang, Xu-Meng [Verfasser:in]; Luo, Qing [Verfasser:in]

    Redox Memristors with Volatile Threshold Switching Behavior for Neuromorphic Computing - [published Version]

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    Windsor; Beijing : English China Online Journals, ECOJ, 2022

  7. Lanza, Mario [Verfasser:in]; Waser, R. [Verfasser:in]; Wiefels, Stefan [Verfasser:in]; Menzel, Stephan [Verfasser:in]; Valov, Ilia [Verfasser:in]; Villena, Marco A. [Verfasser:in]; Miranda, Enrique [Verfasser:in]; Jing, Xu [Verfasser:in]; Campabadal, Francesca [Verfasser:in]; Gonzalez, Mireia B. [Verfasser:in]; Aguirre, Fernando [Verfasser:in]; Palumbo, Felix [Verfasser:in]; Ielmini, Daniele [Verfasser:in]; Zhu, Kaichen [Verfasser:in]; Roldan, Juan Bautista [Verfasser:in]; Puglisi, Francesco Maria [Verfasser:in]; Larcher, Luca [Verfasser:in]; Hou, Tuo-Hung [Verfasser:in]; Prodromakis, Themis [Verfasser:in]; Yang, Yuchao [Verfasser:in]; Huang, Peng [Verfasser:in]; Wan, Tianqing [Verfasser:in]; Chai, Yang [Verfasser:in]; Yang, Jie [Verfasser:in]; [...]

    Standards for the Characterization of Endurance in Resistive Switching Devices

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    Soc., 2021

    Erschienen in: ACS nano 15(11), 17214 - 17231 (2021). doi:10.1021/acsnano.1c06980