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Medientyp: E-Artikel Titel: Reliability issues and modeling of Flash and post-Flash memory (Invited Paper) Beteiligte: Ielmini, Daniele Erschienen: Elsevier BV, 2009 Erschienen in: Microelectronic Engineering, 86 (2009) 7-9, Seite 1870-1875 Sprache: Englisch DOI: 10.1016/j.mee.2009.03.054 ISSN: 0167-9317 Entstehung: Anmerkungen: