Zum Inhalt springen

  1. Yen, Chih-Feng; Lee, Ming-Kwei

    Characterization of enhancement-mode n-channel sulfur-treated InP MOSFET with liquid phase deposition-TiO2 gate oxide

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    American Vacuum Society, 2012

    Erschienen in: Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena, 30 (2012) 5