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  1. Voswinckel, Sebastian [VerfasserIn] ; Zerna, Thomas [AkademischeR BetreuerIn]; Mikolajick, Thomas [AkademischeR BetreuerIn]; Wesselak, Viktor [AkademischeR BetreuerIn] Technische Universität Dresden

    Potentialinduzierte Degrationsmechanismen von Kupferindiumgalliumdiselenid-Dünnschichtphotovoltaikmodulen

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    Nordhausen: Hochschule Nordhausen, 2019

    Erschienen in: Nordhäuser Hochschultexte / Schriftenreihe Ingenieurwissenschaften ; 5

  2. Bukovsky, Sayanti [VerfasserIn] ; Mikolajick, Thomas [AkademischeR BetreuerIn]; Cuniberti, Gianaurelio [AkademischeR BetreuerIn]; Braun, Hans-Georg [AkademischeR BetreuerIn] Technische Universität Dresden

    Nanoscale material characterization of silicon nanowires for application in reconfigurable nanowire transistors

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    Dresden: Technische Universität Dresden, 2021

  3. Yurchuk, Ekaterina [VerfasserIn] ; Mikolajick, Thomas [AkademischeR BetreuerIn]; Mikolajick, Thomas [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Dörr, Kathrin [AkademischeR BetreuerIn] Technische Universität Dresden

    Electrical Characterisation of Ferroelectric Field Effect Transistors based on Ferroelectric HfO2 Thin Films

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    Dresden: Saechsische Landesbibliothek- Staats- und Universitaetsbibliothek Dresden, 2015 ; Dresden: Technische Universität Dresden, 2015

  4. Chohan, Talha [VerfasserIn] ; Mikolajick, Thomas [AkademischeR BetreuerIn]; Schmitz, Jurriaan [AkademischeR BetreuerIn] Technische Universität Dresden

    Reliability Investigations of MOSFETs using RF Small Signal Characterization

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    Dresden, 2023

  5. Calzolaro, Anthony [VerfasserIn] ; Mikolajick, Thomas [AkademischeR BetreuerIn]; Dadgar, Armin [AkademischeR BetreuerIn] Technische Universität Dresden

    Fabrication and Characterization of AlGaN/GaN Metal-Insulator-Semiconductor High Electron Mobility Transistors for High Power Applications

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    Dresden, 2022

  6. Scharf, Patrick [VerfasserIn] ; Heitmann, Johannes [AkademischeR BetreuerIn]; Mikolajick, Thomas [AkademischeR BetreuerIn] Technische Universität Bergakademie Freiberg

    Modellierung, Charakterisierung und Design von PIN-Dioden zur Nutzung als ESD-Schutzstrukturen und Hochleistungsbauelementen

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    Freiberg, 2022

  7. Materano, Monica [VerfasserIn] ; Mikolajick, Thomas [AkademischeR BetreuerIn]; Dubourdieu, Catherine [AkademischeR BetreuerIn] Technische Universität Dresden

    Optimization of performance and reliability of HZO-based capacitors for ferroelectric memory applications

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    Dresden, 2022

  8. Sun, Bin [VerfasserIn] ; Knoch, Joachim [AkademischeR BetreuerIn]; Mikolajick, Thomas [AkademischeR BetreuerIn]

    Reconfigurable field-effect transistors based on wet-chemically etched silicon nanostructures

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    Aachen: Universitätsbibliothek der RWTH Aachen, 2022

  9. Simon, Maik [VerfasserIn] ; Mikolajick, Thomas [AkademischeR BetreuerIn]; Strehle, Steffen [AkademischeR BetreuerIn] Technische Universität Dresden

    Top-down fabrication of reconfigurable nanowire-electronics

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    Dresden: Maik Simon, 2022

  10. Kotzea, Simon [VerfasserIn] ; Vescan, Andrei [AkademischeR BetreuerIn]; Mikolajick, Thomas [AkademischeR BetreuerIn]

    Entwicklung und Herstellung von GaN-basierten Sperrschicht-Feldeffekttransistoren mit vertikalem Kanal

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    Aachen: Universitätsbibliothek der RWTH Aachen, 2021

  11. Max, Benjamin [VerfasserIn] ; Mikolajick, Thomas [AkademischeR BetreuerIn]; Kohlstedt, Hermann [AkademischeR BetreuerIn] Technische Universität Dresden

    Kombination Resistiver und Ferroelektrischer Schaltmechanismen in HfO2-basierten Bauelementen

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    Dresden, 2021

  12. Materlik, Robin [VerfasserIn] ; Mikolajick, Thomas [AkademischeR BetreuerIn]; Kersch, Alfred [AkademischeR BetreuerIn] Technische Universität Dresden

    Stabilization of Ferroelectricity in Hafnia, Zirconia and their Mixtures by Dopants and Interface Energy : First Principles Calculations and a Phenomenological Model

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    Dresden, 2019

  13. Beister, Jürgen [VerfasserIn] ; Mikolajick, Thomas [AkademischeR BetreuerIn]; Schulze, Jörg [AkademischeR BetreuerIn] Technische Universität Dresden

    Untersuchung des elektronischen Transports an 28nm MOSFETs und an Schottky-Barrieren FETs aus Silizium-Nanodrähten

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    Dresden, 2019

    Erschienen in: Research at namlab