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Rumiantsev, Andrej [Verfasser:in] ; Rudolph, Matthias [Akademische:r Betreuer:in]

On-Wafer calibration techniques enabling accurate characterization of high-performance silicon devices at the mm-wave range and beyond

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Cottbus: Universitätsbibliothek der BTU Cottbus, 2014
Rumiantsev, Andrej; Gering, Joe

The 102nd ARFTG Microwave Measurement Symposium 2024

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023

Erschienen in: IEEE Microwave Magazine, 24 (2023) 12, Seite 33-42
Myers, Rusty; Rumiantsev, Andrej

ARFTG Microwave Measurement Symposium 2021 [RWW 2021]

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2020

Erschienen in: IEEE Microwave Magazine, 21 (2020) 12, Seite 19-20
Rumiantsev, Andrej; Gering, Joe

ARFTG Microwave Measurement Symposium in San Antonio [IEEE Radio & Wireless Week 2020]

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2019

Erschienen in: IEEE Microwave Magazine, 20 (2019) 12, Seite 24-25
Rumiantsev, Andrej; Doerner, Ralf

RF Probe Technology: History and Selected Topics

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2013

Erschienen in: IEEE Microwave Magazine, 14 (2013) 7, Seite 46-58
Rumiantsev, Andrej; Ridler, Nick

VNA calibration

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2008

Erschienen in: IEEE Microwave Magazine, 9 (2008) 3, Seite 86-99
Schreurs, Dominique; Rumiantsev, Andrej; Teyssier, Jean-Pierre

Spring ARFTG 2018 Microwave Measurement Conference

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2018

Erschienen in: IEEE Microwave Magazine, 19 (2018) 3, Seite 68-69
Lenk, Friedrich; Doerner, Ralf; Rumiantsev, Andrej

Sensitivity Analysis of $S$-Parameter Measurements Due to Calibration Standards Uncertainty

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2013

Erschienen in: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 61 (2013) 10, Seite 3800-3807
Jargon, Jeffrey A.; Martens, Jon; Rumiantsev, Andrej; Spirito, Marco

2022 Spring/Summer ARFTG Microwave Measurement Conference

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2022

Erschienen in: IEEE Microwave Magazine, 23 (2022) 5, Seite 133-134
Sakalas, Paulius; Claus, Martin; Schroter, Michael; Rumiantsev, Andrej

Experimental characterization of temperature‐dependent electron transport in single‐wall multi‐tube carbon nanotube transistors

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Wiley, 2012

Erschienen in: physica status solidi (RRL) – Rapid Research Letters, 6 (2012) 2, Seite 62-64

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