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Medientyp: E-Book; Hochschulschrift Titel: On-Wafer calibration techniques enabling accurate characterization of high-performance silicon devices at the mm-wave range and beyond Weitere Titel: On-Wafer Kalibriermethoden zur präzisen Charakterisierung von High-Performance Silizium-Bauelementen im mm-Wellen Bereich und darüber Beteiligte: Rumiantsev, Andrej [Verfasser]; Rudolph, Matthias [Akademischer Betreuer] Erschienen: Cottbus: Universitätsbibliothek der BTU Cottbus, 2014 Umfang: Online-Ressource Sprache: Englisch Identifikator: Schlagwörter: S-Parameter ; On-Wafer Charakterisierung ; On-Wafer Kalibriermethoden ; BiCMOS ; CMOS S-parameters ; On-wafer characterization ; On-wafer calibration ; CMOS ; Hochschulschrift Entstehung: Hochschulschrift: Cottbus, Brandenburgische Technische Universität Cottbus, Diss., 2014 Anmerkungen: Zugangsstatus: Freier Zugang