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  1. Scheuer, Jacob [HerausgeberIn]; Shahriar, Selim M. [HerausgeberIn] ; Quantum Sensing, Imaging, and Precision Metrology Veranstaltung 2023 San Francisco, Calif, SPIE, SPIE

    Quantum Sensing, Imaging, and Precision Metrology : 28 January-2 February 2023, San Francisco, California, United States

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2023]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 12447 - SPIE: Proceedings of SPIE ; 12447,PC

  2. Scheuer, Jacob [Herausgebendes Organ]; Shahriar, Selim M. [HerausgeberIn] ; Optical and Quantum Sensing and Precision Metrology Veranstaltung 2022 San Francisco, Calif.; Online, SPIE, SPIE

    Optical and Quantum Sensing and Precision Metrology II : 22-27 January 2022, San Francisco, California, United States : 20-24 February 2022, online

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2022]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 12016 - SPIE: Proceedings of SPIE ; 12016,PC

  3. Shahriar, Selim M. [HerausgeberIn]; Scheuer, Jacob [HerausgeberIn] ; Optical and Quantum Sensing and Precision Metrology Veranstaltung 2021 Online, SPIE, SPIE

    Optical and Quantum Sensing and Precision Metrology : 6-11 March 2021, online only, United States

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2021]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 11700

  4. Shahriar, Selim M. [HerausgeberIn]; Scheuer, Jacob [HerausgeberIn] ; Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology Veranstaltung 2020 San Francisco, Calif, SPIE, SPIE

    Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology II : 1-6 February 2020, San Francisco, California, United States

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2020]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 11296

  5. Shahriar, Selim M. [HerausgeberIn]; Scheuer, Jacob [HerausgeberIn] ; Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology Veranstaltung 2019 San Francisco, Calif, SPIE, SPIE

    Optical, Opto-Atomic, and Entanglement-Enhanced Precision Metrology : 2-7 February 2019, San Francisco, California, United States

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2019]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 10934

  6. Shahriar, Selim M. [HerausgeberIn]; Scheuer, Jacob [HerausgeberIn] ; Steep Dispersion Engineering and Opto-Atomic Precision Metrology Veranstaltung 2018 San Francisco, Calif, SPIE, SPIE

    Steep Dispersion Engineering and Opto-Atomic Precision Metrology XI : 29 January-1 February 2018, San Francisco, California, United States

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2018]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 10548

  7. Shahriar, Selim M. [HerausgeberIn]; Scheuer, Jacob [HerausgeberIn] ; Slow Light, Fast Light, and Opto-Atomic Precision Metrology Veranstaltung 10. 2017 San Francisco, Calif, SPIE, SPIE

    Slow Light, Fast Light, and Opto-Atomic Precision Metrology X : 30 January-2 February 2017, San Francisco, California, United States

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2017]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 10119

  8. Shahriar, Selim M. [HerausgeberIn]; Scheuer, Jacob [HerausgeberIn] ; Slow Light, Fast Light, and Opto-Atomic Precision Metrology Veranstaltung 2016 San Francisco, Calif, SPIE

    Slow Light, Fast Light, and Opto-Atomic Precision Metrology IX : 15-18 February 2016, San Francisco, California, United States

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2016]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 9763

  9. Shahriar, Selim M. [HerausgeberIn]; Scheuer, Jacob [HerausgeberIn] ; Slow Light, Fast Light, and Opto-Atomic Precision Metrology Veranstaltung 2015 San Francisco, Calif, SPIE, SPIE

    Slow Light, Fast Light, and Opto-Atomic Precision Metrology VIII : 8-12 February 2015, San Francisco, California, United States

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2015]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 9378

  10. Kruse, I. [VerfasserIn]; Lange, K. [VerfasserIn]; Peise, J. [VerfasserIn]; Lücke, Bernd [VerfasserIn]; Pezzè, L. [VerfasserIn]; Arlt, Jan J. [VerfasserIn]; Ertmer, Wolfgang [VerfasserIn]; Lisdat, C. [VerfasserIn]; Santos, Luis [VerfasserIn]; Smerzi, A. [VerfasserIn]; Klempt, Carsten [VerfasserIn]; Shahriar, Selim M. [VerfasserIn]; Scheuer, Jacob [VerfasserIn]

    0.75 atoms improve the clock signal of 10,000 atoms - [published Version]

    Aufsätze
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    Bellingham, WA : S P I E - International Society for Optical Engineering, 2017

    Erschienen in: Slow Light, Fast Light, and Opto-Atomic Precision Metrology X : 30 January-2 February 2017, San Francisco, California, United States ; Proceedings of SPIE 10119 (2017)