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Scheuer, Jacob [HerausgeberIn]; Shahriar, Selim M. [HerausgeberIn] ; Quantum Sensing, Imaging, and Precision Metrology Veranstaltung 2023 San Francisco, Calif, SPIE, SPIE

Quantum Sensing, Imaging, and Precision Metrology : 28 January-2 February 2023, San Francisco, California, United States

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  • Medientyp: E-Book; Konferenzbericht
  • Titel: Quantum Sensing, Imaging, and Precision Metrology : 28 January-2 February 2023, San Francisco, California, United States
  • Beteiligte: Scheuer, Jacob [HerausgeberIn]; Shahriar, Selim M. [HerausgeberIn]
  • Körperschaft: SPIE
  • Erschienen: Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2023]
  • Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 12447
    SPIE: Proceedings of SPIE ; 12447,PC
  • Umfang: 2 Online-Ressourcen; Illustrationen
  • Sprache: Englisch
  • ISBN: 9781510660007
  • Schlagwörter: Konferenzschrift
  • Entstehung:
  • Anmerkungen: Teilkonferenz von SPIE Quantum West 2023 im Rahmen von SPIE Photonics West 2023
    Enthält teilweise Vorträge in Form von Videos (Präsentationsfolien), teilweise ausgearbeitete Vorträge
    Literaturangaben