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  1. Bodermann, Bernd [HerausgeberIn]; Frenner, Karsten [HerausgeberIn] ; Modeling Aspects in Optical Metrology Veranstaltung 2021 Online, SPIE, SPIE, European Optical Society, Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik

    Modeling Aspects in Optical Metrology VIII : 21-25 June 2021, online only, Germany

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2021]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 11783

  2. Bodermann, Bernd [HerausgeberIn]; Frenner, Karsten [HerausgeberIn]; Silver, Richard M. [HerausgeberIn] ; Modeling Aspects in Optical Metrology Veranstaltung 2015 München, SPIE, SPIE, European Optical Society, Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik

    Modeling Aspects in Optical Metrology V : 23-25 June 2015, Munich, Germany

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2015]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 9526

  3. Beyerer, Jürgen [HerausgeberIn]; Heizmann, Michael [HerausgeberIn] ; Automated Visual Inspection and Machine Vision Veranstaltung 2021 Online, SPIE, SPIE, European Optical Society, Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik

    Automated Visual Inspection and Machine Vision IV : 21-25 June 2021, online only, Germany

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2021]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 11787

  4. Ferraro, Pietro [HerausgeberIn] ; Optical Methods for Inspection, Characterization, and Imaging of Biomaterials Veranstaltung 2021 Online, SPIE, SPIE, European Optical Society, Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik

    Optical Methods for Inspection, Characterization, and Imaging of Biomaterials V : 21-25 June 2021, online only, Germany

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2021]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 11786

  5. Liang, Haida [HerausgeberIn]; Groves, Roger [HerausgeberIn] ; Optics for Arts, Architecture, and Archaeology Veranstaltung 2021 Online, SPIE, SPIE, European Optical Society, Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik

    Optics for Arts, Architecture, and Archaeology VIII : 21-25 June 2021, online only, Germany

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2021]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 11784

  6. Bodermann, Bernd [HerausgeberIn]; Frenner, Karsten [HerausgeberIn] ; Modeling Aspects in Optical Metrology Veranstaltung 7. 2019 München, SPIE, SPIE, European Optical Society, Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik

    Modeling Aspects in Optical Metrology VII : 24-26 June 2019, Munich, Germany

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2019]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 11057

  7. Lehmann, Peter [HerausgeberIn]; Osten, Wolfgang [HerausgeberIn]; Albertazzi Gonçalves, Armando Jr [HerausgeberIn] ; Optical Measurement Systems for Industrial Inspection Veranstaltung 11. 2019 München, SPIE, SPIE, European Optical Society, Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik

    Optical Measurement Systems for Industrial Inspection XI : 24-27 June 2019, Munich, Germany

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2019]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 11056

  8. Ferraro, Pietro [HerausgeberIn] ; Optical Methods for Inspection, Characterization, and Imaging of Biomaterials Veranstaltung 2019 München, SPIE, SPIE, European Optical Society, Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik

    Optical Methods for Inspection, Characterization, and Imaging of Biomaterials IV : 24-26 June 2019, Munich, Germany

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2019]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 11060

  9. Beyerer, Jürgen [HerausgeberIn]; Puente León, Fernando [HerausgeberIn] ; Automated Visual Inspection and Machine Vision Veranstaltung 2. 2017 München, SPIE, SPIE, European Optical Society, Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik

    Automated Visual Inspection and Machine Vision II : 29 June 2017, Munich, Germany

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2017]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 10334

  10. Bodermann, Bernd [HerausgeberIn]; Frenner, Karsten [HerausgeberIn]; Silver, Richard M. [HerausgeberIn] ; Modeling Aspects in Optical Metrology Veranstaltung 6. 2017 München, SPIE, SPIE, European Optical Society, Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik

    Modeling Aspects in Optical Metrology VI : 26-28 June 2017, Munich, Germany

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2017]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 10330

  11. Lehmann, Peter [HerausgeberIn]; Osten, Wolfgang [HerausgeberIn]; Albertazzi Gonçalves, Armando Jr [HerausgeberIn] ; Optical Measurement Systems for Industrial Inspection Veranstaltung 10. 2017 München, SPIE, SPIE, European Optical Society, Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik

    Optical Measurement Systems for Industrial Inspection X : 26-29 June 2017, Munich, Germany

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2017]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 10329

  12. Ferraro, Pietro [HerausgeberIn] ; Optical Methods for Inspection, Characterization, and Imaging of Biomaterials Veranstaltung 3. 2017 München, SPIE, European Optical Society, Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik

    Optical Methods for Inspection, Characterization, and Imaging of Biomaterials III : 26-28 June 2017, Munich, Germany

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2017]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 10333

  13. Pezzati, Luca [HerausgeberIn]; Targowski, Piotr [HerausgeberIn] ; Optics for Arts, Architecture, and Archaeology Veranstaltung 6. 2017 München, SPIE, SPIE, European Optical Society, Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik

    Optics for Arts, Architecture, and Archaeology VI : 28-29 June 2017, Munich, Germany

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2017]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 10331

  14. Remondino, Fabio [HerausgeberIn]; Shortis, Mark R. [HerausgeberIn] ; Videometrics, Range Imaging, and Applications Veranstaltung 14. 2017 München, SPIE, SPIE, European Optical Society, Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik

    Videometrics, Range Imaging, and Applications XIV : 26-27 June 2017, Munich, Germany

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2017]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 10332

  15. Beyerer, Jürgen [HerausgeberIn]; Puente León, Fernando [HerausgeberIn] ; Automated Visual Inspection and Machine Vision Veranstaltung 2015 München, SPIE, SPIE, European Optical Society, Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik

    Automated Visual Inspection and Machine Vision : 24 June 2015, Munich, Germany

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2015]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 9530

  16. Lehmann, Peter [HerausgeberIn]; Osten, Wolfgang [HerausgeberIn]; Albertazzi Gonçalves, Armando Jr [HerausgeberIn] ; Optical Measurement Systems for Industrial Inspection Veranstaltung 2015 München, SPIE, SPIE, European Optical Society, Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik

    Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IX : 22-25 June 2015, Munich, Germany

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2015]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 9525

  17. Ferraro, Pietro [HerausgeberIn] ; Optical Methods for Inspection, Characterization, and Imaging of Biomaterials Veranstaltung 2015 München, SPIE, SPIE, European Optical Society, Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik

    Optical Methods for Inspection, Characterization, and Imaging of Biomaterials II : 22-24 June 2015, Munich, Germany

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2015]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 9529

  18. Pezzati, Luca [HerausgeberIn]; Targowski, Piotr [HerausgeberIn] ; Optics for Arts, Architecture, and Archaeology Veranstaltung 2015 München, SPIE, SPIE, European Optical Society, Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik

    Optics for Arts, Architecture, and Archaeology V : 24-25 June 2015, Munich, Germany

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2015]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 9527

  19. Stella, Ettore [HerausgeberIn] ; Multimodal Sensing and Artificial Intelligence: Technologies and Applications Veranstaltung 2021 Online, SPIE, SPIE, European Optical Society, Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik

    Multimodal Sensing and Artificial Intelligence: Technologies and Applications II : 21-25 June 2021, online only, Germany

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2021]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 11785

  20. Lehmann, Peter [HerausgeberIn]; Osten, Wolfgang [HerausgeberIn]; Albertazzi Gonçalves, Armando Jr [HerausgeberIn] ; Optical Measurement Systems for Industrial Inspection Veranstaltung 12. 2021 Online, SPIE, SPIE, European Optical Society, Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik

    Optical Measurement Systems for Industrial Inspection XII : 21-25 June 2021, online only, Germany

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    Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2021]

    Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 11782