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Medientyp: E-Book; Konferenzbericht Titel: Automated Visual Inspection and Machine Vision : 24 June 2015, Munich, Germany Beteiligte: Beyerer, Jürgen [HerausgeberIn]; Puente León, Fernando [HerausgeberIn] Körperschaft: SPIE ; European Optical Society ; Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik Erschienen: Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2015] Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 9530 Umfang: 1 Online-Ressource; Illustrationen Sprache: Englisch Schlagwörter: Konferenzschrift Entstehung: Anmerkungen: Teilkonferenz von SPIE Optical Metrology 2015 Literaturangaben