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  1. Auer, Adolf [Verfasser:in]; Kimmelmann, Ralf [Verfasser:in]

    Schaltungstest mit Boundary Scan

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    Heidelberg: Hüthig, 1996

  2. Parker, Kenneth P. [Verfasser:in]

    The Boundary-Scan handbook

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    Boston [u.a.]: Kluwer, 1992

  3. Colloquium on "Application and Development of the Boundary-Scan Standard" (1990 :London, England), Institution of Electrical Engineers Computing & Control Division, Institution of Electrical Engineers Professional Group C6 (Electronic Manufacturing Systems Technology)

    Colloquium on "Application and Development of the Boundary-Scan Standard" : on Wednesday, 19 December 1990

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    London: Institution of Electrical Engineers, 1990

    Erschienen in: IEE colloquium ; digest no. 1990/183

  4. Ostendorff, Steffen [Verfasser:in] ; Mitschele-Thiel, Andreas [Akademische:r Betreuer:in]; Ubar, Raimund-Johannes [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Vierhaus, Heinrich Theodor [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Modellierung und automatische Generierung von FPGA-basierten Testinstrumenten für den strukturellen Leiterplattentest

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    Ilmenau: TU Ilmenau, 2017

  5. Ashenden, P.J.

    Boundary scan test standards

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2003

    Erschienen in: IEEE Design & Test of Computers, 20 (2003) 1, Seite 91-92

  6. Van Treuren, B.G.; Miranda, J.M.

    Embedded boundary scan

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2003

    Erschienen in: IEEE Design & Test of Computers, 20 (2003) 2, Seite 20-25

  7. Zabolotny, Wojciech M.; Jodlowski, Seweryn; Pietrusinski, Michal; Pozniak, Krzysztof T.; Kudla, Ignacy M.

    Multichannel boundary scan controller

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    SPIE, 2003

    Erschienen in: SPIE Proceedings (2003)

  8. Burgess, R.; Nagaraj, P.; Waseq, M.N.

    The boundary scan

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 1995

    Erschienen in: IEEE Potentials, 14 (1995) 3, Seite 11-12

  9. Design for Boundary-Scan Test

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    Japan Institute of Electronics Packaging, 2020

    Erschienen in: Journal of The Japan Institute of Electronics Packaging, 23 (2020) 3, Seite 243-247

  10. Ziaja, Thomas A.; Swartzlander, Earl E.

    Boundary scan in board manufacturing

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    Springer Science and Business Media LLC, 1994

    Erschienen in: Journal of Electronic Testing, 5 (1994) 2-3, Seite 263-268