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Siegbahn, Kai [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

ESCA applied to free molecules

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Amsterdam [u.a.]: North-Holland Publ. [u.a.], 1969
Practical surface analysis / 1, Auger and x-ray photoelectron spectroscopy - [2. ed., repr.]

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Chichester: Wiley, 1995

Erschienen in: Practical surface analysis / ed. by D. Briggs ... ; 1,2, repr.,1995
Practical surface analysis / 1, Auger and x-ray photoelectron spectroscopy - [2. ed.]

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Chichester: Wiley, 1990

Erschienen in: Practical surface analysis / ed. by D. Briggs ... ; 1,2
Makharza, Sami A [Verfasser:in]

Graphene Oxide Nanohybrids as Platforms for Carboplatin Loading and Delivery

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2015
Van der Heide, Paul [Verfasser:in]

X-ray photoelectron spectroscopy : an introduction to principles and practices

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Hoboken, NJ: Wiley, 2012
Merica, Radu [Verfasser:in]

Oberflächenanalytische Untersuchungen zum Mechanismus heterogener Reaktionen bei der Abscheidung anorganischer Materialien

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1997
Augsburg, Antje [Verfasser:in]

Untersuchung von Zusammenhängen zwischen Oberflächenpolaritäts-Eigenschaften und dem elektrostatischen Aufladeverhalten polymerer Festkörper

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1998
Grasserbauer, Manfred [Verfasser:in]; Dudek, Hans J. [Verfasser:in]; Ebel, Maria F. [Verfasser:in] ; Dudek, Hans Joachim [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS ; mit 29 Tabellen

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Berlin: Akad.-Verl., 1986
Peter, Frank [Verfasser:in]

Piezoresponse force microscopy and surface effects of perovskite ferroelectric nanostructures

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Jülich: Forschungszentrum, Zentralbibliothek, 2006

Erschienen in: Forschungszentrum Jülich: Schriften des Forschungszentrums Jülich / Reihe Informationstechnik ; 11
Kozłowska, Magdalena [Verfasser:in]

Winkelaufgelöste XPS: Optimierung der mathematischen Modellierung und deren experimentelle Überprüfung

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2005
Watts, John F. [Verfasser:in]; Wolstenholme, John [Verfasser:in]

An introduction to surface analysis by XPS and AES

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New York; Weinheim [u.a.]: Wiley, c 2003
Dobler, Dorota [Verfasser:in]

Oberflächenanalytische Untersuchungen von Segregationseffekten an dotierten oxidischen Feinstpulvern und Einkristallen

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2002
Wurlitzer, Lisa [Verfasser:in] ; Maus-Friedrichs, Wolfgang [Akademische:r Betreuer:in] Technische Universität Clausthal, Shaker Verlag

Spektroskopische und mikroskopische Untersuchungen zur Bildung von Siliciumoxidschichten aus einem zweistufigen Plasmaverfahren

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Düren: Shaker Verlag, 2021

Erschienen in: Fortschrittsberichte der Materialforschung und Werkstofftechnik ; 9
Höfer, Katharina [Verfasser:in] ; Technische Universität Dresden

All in situ ultra-high vacuum study of Bi2Te3 topological insulator thin films

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Dresden: Technische Universität Dresden, Juli 2016
Bruce, Duncan W. [Herausgeber:in]; O'Hare, Dermot [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Walton, Richard I. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Local structural characterisation - [1. publ.]

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Chichester, West Sussex: Wiley, 2014

Erschienen in: Inorganic materials series
Usov, Denys [Verfasser:in]

Switching of surface composition and morphology of binary polymer brushes

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2004
Thiessen, Andreas [Verfasser:in]

Photoinduzierter Ladungstransport in komplexen Oxiden

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2013
Verma, Hem R. [Verfasser:in] ; Verma, H. R. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Atomic and nuclear analytical methods : XRF, Mössbauer, XPS, NAA and ion-beam spectroscopic techniques

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2007
Grasserbauer, Manfred [Verfasser:in]; Dudek, Hans J. [Verfasser:in]; Ebel, Maria F. [Verfasser:in]

Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS : mit 29 Tabellen

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1986
Grundner, Manfred [Verfasser:in]

Oberflaechenuntersuchungen an Niob fuer supraleitende Resonatoren mittels der Roentgen-Photoelektronenspektroskopie und der Auger-Elektronenspektroskopie

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circa 1977

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