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Medientyp: Buch Titel: Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS : mit 29 Tabellen Beteiligte: Grasserbauer, Manfred [Verfasser:in]; Dudek, Hans J. [Verfasser:in]; Ebel, Maria F. [Verfasser:in] Erschienen: Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1986 Umfang: VIII, 300 Seiten; Illustrationen; 25 cm Sprache: Deutsch ISBN: 3540150501; 0387150501 RVK-Notation: ZM 7605 : Oberflächenanalyse UP 7500 : Allgemeines Schlagwörter: Sekundärionen-Massenspektrometrie Auger-Spektroskopie Röntgen-Photoelektronenspektroskopie Entstehung: Anmerkungen: Literaturangaben
Zentralbibliothek – Magazin Signatur: 0587 00035 001 Barcode: 30677046 Status: Ausleihbar, bitte bestellen > Bestellen möglich - bitte anmelden Bestellungen, die von Mo - Fr bis 13 Uhr eingehen, werden voraussichtlich am selben Tag für Sie bereitgestellt.