Technische Universität Dresden (12)
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Wittstock, Gunther (8)
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Schuhmann, Wolfgang (7)
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Universität Ulm (7)
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Pawley, James B. (6)
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Universität Rostock (6)
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Universitätsmedizin Rostock (6)
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WITEC Wissenschaftliche Instrumente und Technologie GmbH Ulm (6)
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Engel, Lothar (5)
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Klimpki, Grischa (5)
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Echlin, Patrick (4)
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Friedrich-Schiller-Universität Jena (4)
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Goldstein, Joseph (4)
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Joy, David C. (4)
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Klingele, Hermann (4)
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Manske, Eberhard (4)
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Newbury, Dale E. (4)
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Physikalisch-Technische Bundesanstalt Abteilung Fertigungsmesstechnik (4)
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Stachs, Oliver (4)
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Goldstein, Joseph I. (3)
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Greilich, Steffen (3)
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Jäkel, Oliver (3)
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Lang, Denny (3)
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Lifshin, Eric (3)
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Reimer, Ludwig (3)
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Agard, David (2)
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Allgeier, Stephan (2)
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Arbeitskreis Rastermikroskopie in der Materialprüfung (2)
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Baudouin, Christophe (2)
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Beckhaus, Rüdiger (2)
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Bhushan, Bharat (2)
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Binding, Jonas Rolf Hans (2)
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Bingen, Pit (2)
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Braun, Kai (2)
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Conn, Patrick Michael (2)
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Dogel, Jana (2)
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Dräbenstedt, Alexander (2)
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Eberhard Karls Universität Tübingen (2)
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Eng, Lukas M. (2)
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Engler, Andreas (2)
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Fakultät für Chemie und Biochemie (2)
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Fiori, Charles E. (2)
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Fricke, Matthias (2)
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Grützke, Stefanie (2)
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Guthoff, Rudolf (2)
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Hasche, Klaus (2)
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Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf (2)
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Heuvelman, Gerrit Lambertus (2)
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Hofmann, Michael (2)
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Just, Tino (2)
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Kuschewski, Frederik (2)
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Köhler, Michael (2)
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La Schiazza, Olivier (2)
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Maiwald, Werner J. (2)
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Mathée, Hans (2)
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Matsumoto, Brian (2)
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Maus-Friedrichs, Wolfgang (2)
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Medda, Rebecca (2)
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Nebel, Michaela (2)
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Neidel, Andreas (2)
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Neuber, Erik (2)
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Niklas, Martin Anthony (2)
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Nimmerjahn, Axel (2)
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Osinga-Blättermann, Julia-Maria (2)
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Otto, Tobias (2)
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Pe-Piper, Georgia (2)
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Piper, David J. W. (2)
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Plettenberg, Inka (2)
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Price, Robert L. (2)
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Rangelow, Ivo W. (2)
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Reuss, Matthias (2)
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Rosenbauer, Karlheinz A. (2)
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Rosenhahn, Axel (2)
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Ruckelshausen, Thomas (2)
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Ruttekolk, Ivo Robert (2)
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Samorí, Paolo (2)
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Scanning Microscopy International Chicago, Ill (2)
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Schröder, Uwe (2)
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Schulte, Albert (2)
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Schürmann, Sebastian (2)
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Shaker Verlag (2)
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Stave, Joachim (2)
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Technische Universität Clausthal (2)
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Tiziani, Hans J. (2)
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Träutlein, Daniel (2)
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Uhde, Hans-Martin (2)
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Universitätsverlag Ilmenau (2)
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Vock, Silvia (2)
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Wiley-VCH (2)
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Wilhelm, Thomas (2)
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Wilson, Tony (2)
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Wurlitzer, Lisa (2)
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Zhao, Xianbin (2)
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Abbasirad, Najmeh (1)
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Advanced Research Workshop on Near Field Optics: Recent Progress and Perspectives 1995 Miraflores, Sierra (1)
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Advanced Study Institute on Forces in Scanning Probe Methods 1994 Schluchsee (1)
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Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy 2002 Albufeira (1)
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Akselrod, Mark S. (1)
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Alexe, Marin (1)
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American Chemical Society (1)
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