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Medientyp: Buch Titel: Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis Beteiligte: Reimer, Ludwig [VerfasserIn] Erschienen: Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1998 Erschienen in: Springer series in optical sciences ; 45.1998 Ausgabe: 2., completely rev. and updated ed. Umfang: XIV, 527 S; Ill., graph. Darst Sprache: Englisch ISBN: 3540639764; 9783642083723 RVK-Notation: UH 6300 : Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines UH 6310 : Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines Schlagwörter: Rasterelektronenmikroskopie Entstehung: Anmerkungen: Hier auch später erschienene, unveränderte Nachdrucke Weitere Bestandsnachweise 0 : Springer series in optical sciences
Bestand der TU Dresden Signatur: 2015 8 006967 Barcode: 11869884N Status: Verfügbarkeit bitte in Dresden Center Nanoanalysis erfragen.
Zentralbibliothek Signatur: UH 6300 R363(2) Barcode: 31576635 Status: Verfügbarkeit bitte in Prof Optoelektronische Bauelemente erfragen.