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  1. Altet, Josep [VerfasserIn]; Rubio, Antonio [VerfasserIn]

    Thermal testing of integrated circuits

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    Boston, Mass. [u.a.]: Kluwer Acad. Publ., 2002

  10. Fornt, Jordi; Fontova-Musté, Pau; Caro, Martí; Abella, Jaume; Moll, Francesc; Altet, Josep; Studer, Christoph

    An Energy-Efficient GeMM-Based Convolution Accelerator With On-the-Fly im2col

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023

    Erschienen in: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

  12. Perpina, Xavier; Reverter, Ferran; Leon, Javier; Barajas, Enrique; Vellvehi, Miquel; Jorda, Xavier; Altet, Josep

    Output Power and Gain Monitoring in RF CMOS Class A Power Amplifiers by Thermal Imaging

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2019

    Erschienen in: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

  17. Onabajo, Marvin; Altet, Josep; Aldrete-Vidrio, Eduardo; Mateo, Diego; Silva-Martinez, Jose

    Electrothermal Design Procedure to Observe RF Circuit Power and Linearity Characteristics With a Homodyne Differential Temperature Sensor

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    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2011

    Erschienen in: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers

  18. Onabajo, Marvin; Gómez, Didac; Aldrete-Vidrio, Eduardo; Altet, Josep; Mateo, Diego; Silva-Martinez, Jose

    Survey of Robustness Enhancement Techniques for Wireless Systems-on-a-Chip and Study of Temperature as Observable for Process Variations

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    Springer Science and Business Media LLC, 2011

    Erschienen in: Journal of Electronic Testing

  20. Aldrete-Vidrio, Eduardo; Mateo, Diego; Altet, Josep; Salhi, M Amine; Grauby, Stéphane; Dilhaire, Stefan; Onabajo, Marvin; Silva-Martinez, Jose

    Strategies for built-in characterization testing and performance monitoring of analog RF circuits with temperature measurements

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    IOP Publishing, 2010

    Erschienen in: Measurement Science and Technology