Zum Inhalt springen

  1. Huber, Martin; Daumiller, Ingo; Andreev, Andrei; Silvestri, Marco; Knuuttila, Lauri; Lundskog, Anders; Wahl, Michael; Kopnarski, Michael; Bonanni, Alberta

    Characterization of AlN/AlGaN/GaN:C heterostructures grown on Si(111) using atom probe tomography, secondary ion mass spectrometry, and vertical current-voltage measurements

    Aufsätze
    Online ansehen
    Schließen

    Merkliste

    Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.

    AIP Publishing, 2016

    Erschienen in: Journal of Applied Physics