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Sechen, Carl [VerfasserIn]

VLSI placement and global routing using simulated annealing - [2. print.]

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Boston [u.a.]: Kluwer Academic, 1997

Erschienen in: Kluwer international series in engineering and computer science ; 54.1997
Sechen, Carl

An improved lock-layer transistor

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Elsevier BV, 1978

Erschienen in: Solid-State Electronics
Tennakoon, Hiran; Sechen, Carl

Nonconvex Gate Delay Modeling and Delay Optimization

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2008

Erschienen in: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
Yu, Qicheng; Sechen, Carl

Generation of colour-constrained spanning trees with application in symbolic circuit analysis

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Wiley, 1996

Erschienen in: International Journal of Circuit Theory and Applications
Roy, Kalapi; Sechen, Carl

A Timing-Driven Partitioning System for Multiple FPGAs

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Hindawi Limited, 1996

Erschienen in: VLSI Design
Wang, Zhao; He, Xiao; Sechen, Carl

A New Approach for Gate-Level Delay-Insensitive Asynchronous Logic

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Springer Science and Business Media LLC, 2015

Erschienen in: Circuits, Systems, and Signal Processing
Vujkovic, Miodrag; Wadkins, David; Sechen, Carl

Lecture Notes in Computer Science: Efficient Post-layout Power-Delay Curve Generation

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Springer Berlin Heidelberg, 2005

Erschienen in: Lecture Notes in Computer Science
Roy, Kalapi; Guan, Bingzhong (David); Sechen, Carl

A Sea-of-Gates Style FPGA Placement Algorithm

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Hindawi Limited, 1996

Erschienen in: VLSI Design
Haslett, James W.; Huang, Qiuting; Matsuzawa, Akira; Nagaraj, Krishnaswamy; Sechen, Carl Matthew; Van der Spiegel, Jan

SSCS members honored as 2002 IEEE fellows

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2002

Erschienen in: IEEE Solid-State Circuits Society Newsletter
Heidarpour Roshan, Meisam; Zaliasl, Samira; Joo, Kimo; Souri, Kamran; Palwai, Rajkumar; Chen, Lijun Will; Singh, Amanpreet; Pamarti, Sudhakar; Miller, Nicholas J.; Doll, Joseph C.; Arft, Carl; Tabatabaei, Sassan; Sechen, Carl; Partridge, Aaron; Menon, Vinod

A MEMS-Assisted Temperature Sensor With 20- $\mu \text{K}$ Resolution, Conversion Rate of 200 S/s, and FOM of 0.04 pJK2

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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2017

Erschienen in: IEEE Journal of Solid-State Circuits

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