Zum Inhalt springen Altet, Josep [VerfasserIn]; Rubio, Antonio [VerfasserIn] Thermal testing of integrated circuits Bücher Schließen > Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein. Boston, Mass. [u.a.]: Kluwer Acad. Publ., 2002
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> Verfügbarkeit Skip to next facet Freihand verfügbar (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Standort Skip to next facet Bereichsbibliothek DrePunct (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen
> Person/Institution Skip to next facet Altet, Josep (1) Wert ausschließen Rubio, Antonio (1) Wert ausschließen zeige weitere weniger zeigen