Skip to contents Gerlach, Gerald [Editor]; Wolter, Klaus-Jürgen [Other] Bio and nano packaging techniques for electron devices : advances in electronic device packaging Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin; Heidelberg: Springer, 2012 Schwerz, Robert [Author] ; Technische Universität Dresden Zuverlässigkeitsanalyse von gekapselten Bauelementen in der 3D-Leiterplattenintegration Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Dresden: TUDpress, 2018 Published in: Dresdner Beiträge zur Aufbau- und Verbindungstechnik der Elektronik ; 5 Zschenderlein, Uwe [Author] Zerstörungsfreie Eigenspannungsbestimmung für die Zuverlässigkeitsbewertung 3D-integrierter Kontaktstrukturen in Silizium Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Chemnitz: Universitätsverlag Chemnitz, 2014 Zschenderlein, Uwe [Author] Zerstörungsfreie Eigenspannungsbestimmung für die Zuverlässigkeitsbewertung 3D-integrierter Kontaktstrukturen in Silizium Books View online Schließen > Access ... to E-book via Resolving system (Volltext ; freely accessible) Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Chemnitz: Universitätsverlag Chemnitz, 2014
Gerlach, Gerald [Editor]; Wolter, Klaus-Jürgen [Other] Bio and nano packaging techniques for electron devices : advances in electronic device packaging Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin; Heidelberg: Springer, 2012
Schwerz, Robert [Author] ; Technische Universität Dresden Zuverlässigkeitsanalyse von gekapselten Bauelementen in der 3D-Leiterplattenintegration Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Dresden: TUDpress, 2018 Published in: Dresdner Beiträge zur Aufbau- und Verbindungstechnik der Elektronik ; 5
Zschenderlein, Uwe [Author] Zerstörungsfreie Eigenspannungsbestimmung für die Zuverlässigkeitsbewertung 3D-integrierter Kontaktstrukturen in Silizium Books View online Schließen Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Chemnitz: Universitätsverlag Chemnitz, 2014
Zschenderlein, Uwe [Author] Zerstörungsfreie Eigenspannungsbestimmung für die Zuverlässigkeitsbewertung 3D-integrierter Kontaktstrukturen in Silizium Books View online Schließen > Access ... to E-book via Resolving system (Volltext ; freely accessible) Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Chemnitz: Universitätsverlag Chemnitz, 2014
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> Subject Skip to next facet Technology (4) Wert ausschließen Physics (2) Wert ausschließen Chemistry and pharmacology (1) Wert ausschließen Show more show less
> Creator Skip to next facet Zschenderlein, Uwe (2) Wert ausschließen Gerlach, Gerald (1) Wert ausschließen Schwerz, Robert (1) Wert ausschließen Technische Universität Dresden (1) Wert ausschließen Wolter, Klaus-Jürgen (1) Wert ausschließen Show more show less
> Collection Skip to next facet Verbunddaten SWB (4) Wert ausschließen Abschlussarbeiten der TU Dresden (1) Wert ausschließen Lizenzfreie Online-Ressourcen (1) Wert ausschließen Qucosa (1) Wert ausschließen Show more show less