Skip to contents Derickson, Dennis [Editor]; Hentschel, Christian [Other] ; Hewlett-Packard Company Fiber optic test and measurement Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Upper Saddle River, NJ: Prentice Hall PTR, 1998 Published in: Hewlett-Packard professional books Federbusch, Maria [Author]; Polzin, Christian [Author] ; Stäcker, Thomas [Other] Volltext via OCR - Möglichkeiten und Grenzen : Testszenarien zu den Funeralschriften der Staatsbibliothek zu Berlin - Preußischer Kulturbesitz Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin: Staatsbibliothek zu Berlin - Preußischer Kulturbesitz, 2013 Published in: Staatsbibliothek zu Berlin: Beiträge aus der Staatsbibliothek zu Berlin - Preußischer Kulturbesitz ; 43 Gretarsson, Andri [Author] A first course in laboratory optics Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Cambridge, UK; New York, NY, USA; Port Melbourne, Australia; New Delhi, India; Singapore: Cambridge University Press, 2021 Mrowinski, Dieter [Editor]; Scholz, Günther [Other]; Keck, Wolfgang [Other] Audiometrie : eine Anleitung für die praktische Hörprüfung ; 10 Tabellen ; mit CD-ROM Audiosim-Lernprogramm für die Tonschwellenaudiometrie mit Vertäubung - [3., aktualisierte und erw. Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Stuttgart [u.a.]: Thieme, c2006 Kursawe, Stephan [Author] Festplatten : Schnittstellen, neue Technologien, Einbau und Inbetriebnahme, Dateisysteme, - mehrere Betriebssysteme auf einer Platte - Wartung und Fehlerdiagnose IDE- und SCSI-Systeme richtig konfigurieren, RAID, Software für optimalen Einsatz, Lösungen Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Poing: Franzis, 1998 Dembowski, Klaus [Author] PC-Werkstatt : kompakt, komplett, kompetent Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Haar bei München: Markt und Technik, Buch- und Software-Verl., 1998 Published in: M & T magnum Moeschlin, Otto [Other] Evaluation statistischer Verfahren Electronic Resources Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Basel [u.a.]: Birkhäuser, 1995 Published in: Experimentelle Stochastik ; 4 Mrowinski, Dieter [Author]; Scholz, Günther [Author] Audiometrie : eine Anleitung für die praktische Hörprüfung; 13 Tabellen - [4., aktualisierte und erw. Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Stuttgart [u.a.]: Thieme, 2011 Der PC-Doktor : Probleme mit dem PC?; dieser Doktor hilft wirklich!; pflegt und behandelt ihren PC, sucht systematisch nach Software-Fehlern, checkt ihre Hardware; Sprechstunde für ihren Rechner - [Genehmigte Sonderausg.] Electronic Resources Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Königswinter: Tandem-Verl., 1998 Published in: Multimedia line- Tandem-Top-Stars Bovenkerk, Jens [Author]; Gies, Stefan [Author]; Urban, Peter [Author] Schutz von Fußgängern beim Scheibenanprall II : [Bericht zum Forschungsprojekt FE 82.308/2006] Electronic Resources Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Bremerhaven: Wirtschaftsverlag N. W. Verlag für neue Wissenschaft, 2010 Published in: Bundesanstalt für Straßenwesen: Berichte der Bundesanstalt für Straßenwesen / F ; 76 Schüller, Ulrich [Author]; Veddeler, Hans-Georg [Author] PCs aufrüsten - Schritt für Schritt : zuverlässige Anleitungen zur Erweiterung und Reparatur Ihres Computers ; [der neue Schüller, Veddeler!] - [Neuausg.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Haar bei München: Markt & Technik, Buch- und Software-Verl., 1999 Published in: M & T Hardware Schneider, Silvia [Author]; Margraf, Jürgen [Author] DIPS : diagnostisches Interview bei psychischen Störungen ; für DSM-IV-TR ; Handbuch, Interviewleitfaden, Protokollbogen ; mit CD-ROM - [4., überarb. Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2011 Lopresti, Daniel [Editor] ; DAS 5 2002 Princeton, NJ Proceedings / 5th International Workshop, DAS 2002, Princeton, NJ, USA, August 19 - 21, 2002 Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2002 Published in: Document analysis systems ; 5 - Lecture notes in computer science ; 2423 Hesse, Jürgen [Author]; Schrader, Hans Christian [Author] Testtraining Höherer Dienst : Auswahl- und Aufstiegsverfahren im Öffentlichen Dienst erfolgreich bestehen ; Eignungstests, Assessment Center und Erfahrungsberichte Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Hallbergmoos: Stark Verlagsgesellschaft, 2011 Published in: Testtraining Beruf & Karriere O'Shea, Donald C. [Other] Diffractive optics : design, fabrication, and test Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Bellingham, Wash.: SPIE Pr., 2004 Published in: Tutorial texts in optical engineering ; 62 Li, Stan Z. [Editor] ; International Workshop on Biometric Recognition Systems 2005 Peking Advances in biometric person authentication : International Workshop on Biometric Recognition Systems, IWBRS 2005, Beijing, China, October 22 - 23, 2005 ; proceedings Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2005 Published in: Lecture notes in computer science ; 3781 Elser, Thomas [Author] Statistik für die Praxis : vom Problem zur Methode - [1. Aufl] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Weinheim: Wiley-VCH, 2004 Schraub, Josef [Other] Physismart 2.0 : interaktive Physik-Simulationen; Mechanik, Schwingungen und Wellen, Atom- und Kernphysik, spezielle Relativitätstheorie, geometrische Optik, Mathematik Electronic Resources Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Köln: Aulis Verlag Deubner, [2005] Published in: Aulis Software Deutsches Institut für Normung Untersuchung von Bodenproben und Messtechnik : Normen - [Stand: Juni 2005, Ausg. August 2005] Electronic Resources Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin: Beuth, 2005 Published in: Deutsches Institut für Normung: DIN-Taschenbuch ; 376,crom Wüllenweber, Matthias [Other] Albert - Physik interaktiv : Physik lernen und verstehen, von der Optik bis zur Quantenmechanik, Experimente definieren mit PhysCAL ; nun auch für WIN ME, WIN 2000 und WIN XP getestet! - [Version 4.0 ; Einzellizenz] Electronic Resources Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin; Heidelberg; New York; Barcelona; Hongkong; London; Mailand; Paris; Tokio: Springer, 2002 Published in: Springer electronic media
Derickson, Dennis [Editor]; Hentschel, Christian [Other] ; Hewlett-Packard Company Fiber optic test and measurement Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Upper Saddle River, NJ: Prentice Hall PTR, 1998 Published in: Hewlett-Packard professional books
Federbusch, Maria [Author]; Polzin, Christian [Author] ; Stäcker, Thomas [Other] Volltext via OCR - Möglichkeiten und Grenzen : Testszenarien zu den Funeralschriften der Staatsbibliothek zu Berlin - Preußischer Kulturbesitz Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin: Staatsbibliothek zu Berlin - Preußischer Kulturbesitz, 2013 Published in: Staatsbibliothek zu Berlin: Beiträge aus der Staatsbibliothek zu Berlin - Preußischer Kulturbesitz ; 43
Gretarsson, Andri [Author] A first course in laboratory optics Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Cambridge, UK; New York, NY, USA; Port Melbourne, Australia; New Delhi, India; Singapore: Cambridge University Press, 2021
Mrowinski, Dieter [Editor]; Scholz, Günther [Other]; Keck, Wolfgang [Other] Audiometrie : eine Anleitung für die praktische Hörprüfung ; 10 Tabellen ; mit CD-ROM Audiosim-Lernprogramm für die Tonschwellenaudiometrie mit Vertäubung - [3., aktualisierte und erw. Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Stuttgart [u.a.]: Thieme, c2006
Kursawe, Stephan [Author] Festplatten : Schnittstellen, neue Technologien, Einbau und Inbetriebnahme, Dateisysteme, - mehrere Betriebssysteme auf einer Platte - Wartung und Fehlerdiagnose IDE- und SCSI-Systeme richtig konfigurieren, RAID, Software für optimalen Einsatz, Lösungen Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Poing: Franzis, 1998
Dembowski, Klaus [Author] PC-Werkstatt : kompakt, komplett, kompetent Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Haar bei München: Markt und Technik, Buch- und Software-Verl., 1998 Published in: M & T magnum
Moeschlin, Otto [Other] Evaluation statistischer Verfahren Electronic Resources Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Basel [u.a.]: Birkhäuser, 1995 Published in: Experimentelle Stochastik ; 4
Mrowinski, Dieter [Author]; Scholz, Günther [Author] Audiometrie : eine Anleitung für die praktische Hörprüfung; 13 Tabellen - [4., aktualisierte und erw. Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Stuttgart [u.a.]: Thieme, 2011
Der PC-Doktor : Probleme mit dem PC?; dieser Doktor hilft wirklich!; pflegt und behandelt ihren PC, sucht systematisch nach Software-Fehlern, checkt ihre Hardware; Sprechstunde für ihren Rechner - [Genehmigte Sonderausg.] Electronic Resources Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Königswinter: Tandem-Verl., 1998 Published in: Multimedia line- Tandem-Top-Stars
Bovenkerk, Jens [Author]; Gies, Stefan [Author]; Urban, Peter [Author] Schutz von Fußgängern beim Scheibenanprall II : [Bericht zum Forschungsprojekt FE 82.308/2006] Electronic Resources Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Bremerhaven: Wirtschaftsverlag N. W. Verlag für neue Wissenschaft, 2010 Published in: Bundesanstalt für Straßenwesen: Berichte der Bundesanstalt für Straßenwesen / F ; 76
Schüller, Ulrich [Author]; Veddeler, Hans-Georg [Author] PCs aufrüsten - Schritt für Schritt : zuverlässige Anleitungen zur Erweiterung und Reparatur Ihres Computers ; [der neue Schüller, Veddeler!] - [Neuausg.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Haar bei München: Markt & Technik, Buch- und Software-Verl., 1999 Published in: M & T Hardware
Schneider, Silvia [Author]; Margraf, Jürgen [Author] DIPS : diagnostisches Interview bei psychischen Störungen ; für DSM-IV-TR ; Handbuch, Interviewleitfaden, Protokollbogen ; mit CD-ROM - [4., überarb. Aufl.] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2011
Lopresti, Daniel [Editor] ; DAS 5 2002 Princeton, NJ Proceedings / 5th International Workshop, DAS 2002, Princeton, NJ, USA, August 19 - 21, 2002 Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2002 Published in: Document analysis systems ; 5 - Lecture notes in computer science ; 2423
Hesse, Jürgen [Author]; Schrader, Hans Christian [Author] Testtraining Höherer Dienst : Auswahl- und Aufstiegsverfahren im Öffentlichen Dienst erfolgreich bestehen ; Eignungstests, Assessment Center und Erfahrungsberichte Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Hallbergmoos: Stark Verlagsgesellschaft, 2011 Published in: Testtraining Beruf & Karriere
O'Shea, Donald C. [Other] Diffractive optics : design, fabrication, and test Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Bellingham, Wash.: SPIE Pr., 2004 Published in: Tutorial texts in optical engineering ; 62
Li, Stan Z. [Editor] ; International Workshop on Biometric Recognition Systems 2005 Peking Advances in biometric person authentication : International Workshop on Biometric Recognition Systems, IWBRS 2005, Beijing, China, October 22 - 23, 2005 ; proceedings Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2005 Published in: Lecture notes in computer science ; 3781
Elser, Thomas [Author] Statistik für die Praxis : vom Problem zur Methode - [1. Aufl] Books Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Weinheim: Wiley-VCH, 2004
Schraub, Josef [Other] Physismart 2.0 : interaktive Physik-Simulationen; Mechanik, Schwingungen und Wellen, Atom- und Kernphysik, spezielle Relativitätstheorie, geometrische Optik, Mathematik Electronic Resources Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Köln: Aulis Verlag Deubner, [2005] Published in: Aulis Software
Deutsches Institut für Normung Untersuchung von Bodenproben und Messtechnik : Normen - [Stand: Juni 2005, Ausg. August 2005] Electronic Resources Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin: Beuth, 2005 Published in: Deutsches Institut für Normung: DIN-Taschenbuch ; 376,crom
Wüllenweber, Matthias [Other] Albert - Physik interaktiv : Physik lernen und verstehen, von der Optik bis zur Quantenmechanik, Experimente definieren mit PhysCAL ; nun auch für WIN ME, WIN 2000 und WIN XP getestet! - [Version 4.0 ; Einzellizenz] Electronic Resources Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. Berlin; Heidelberg; New York; Barcelona; Hongkong; London; Mailand; Paris; Tokio: Springer, 2002 Published in: Springer electronic media
> Media type Skip to next facet Articles (5.412) Wert ausschließen Standards (1.534) Wert ausschließen Conference Proceedings (398) Wert ausschließen Books (83) Wert ausschließen Electronic Resources (31) Wert ausschließen Software (4) Wert ausschließen Thesis (4) Wert ausschließen Videos (2) Wert ausschließen Show more show less
> Availability Skip to next facet Open Shelves (20) Wert ausschließen Stack Collection (31) Wert ausschließen Ask for availability (10) Wert ausschließen Show more show less
> Location Skip to next facet Central Library (30) Wert ausschließen Departmental Library DrePunct (24) Wert ausschließen TU Dresden holdings (7) Wert ausschließen Branch Library of Educationen (3) Wert ausschließen Branch Library of Medicine (3) Wert ausschließen Multimedia Language Center (2) Wert ausschließen Show more show less
> Rights information Skip to next facet In Copyright (1.534) Wert ausschließen Attribution (CC BY) (10) Wert ausschließen Attribution - No Derivs (CC BY-ND) (2) Wert ausschließen Attribution - Share Alike (CC BY-SA) (2) Wert ausschließen Attribution - Non Commercial (CC BY-NC) (1) Wert ausschließen Attribution - Non Commercial - No Derivs (CC BY-NC-ND) (1) Wert ausschließen Attribution - Non Commercial - Share Alike (CC BY-NC-SA) (1) Wert ausschließen Show more show less
> Access State Skip to next facet Open Access (677) Wert ausschließen Restricted Access (1.534) Wert ausschließen Without Specification (5.193) Wert ausschließen Show more show less
> Language Skip to next facet English (4.237) Wert ausschließen Not determined (2.750) Wert ausschließen German (848) Wert ausschließen French (6) Wert ausschließen Polish (3) Wert ausschließen Japanese (2) Wert ausschließen Chinese (1) Wert ausschließen Indonesian (1) Wert ausschließen Persian (1) Wert ausschließen Russian (1) Wert ausschließen Spanish (1) Wert ausschließen Show more show less
> Subject Skip to next facet Technology (6.475) Wert ausschließen Physics (5.001) Wert ausschließen Mathmatics (3.632) Wert ausschließen Chemistry and pharmacology (976) Wert ausschließen General (926) Wert ausschließen Medicine (305) Wert ausschließen Computer science (299) Wert ausschließen Biology (193) Wert ausschließen Geography (105) Wert ausschließen Geology and paleontology (99) Wert ausschließen Agriculture and forestry, horticulture, fisheries, housekeeping (37) Wert ausschließen Psychology (18) Wert ausschließen General sciences (12) Wert ausschließen Pedagogy (11) Wert ausschließen Economics (10) Wert ausschließen American studies (6) Wert ausschließen Art and art history (4) Wert ausschließen Sports science (4) Wert ausschließen Allgemeine Naturwissenschaften (3) Wert ausschließen General and comparative linguistics and literary studies, indo-european, non-european languages and literatures (3) Wert ausschließen Sociology (3) Wert ausschließen Ethnology and ethnography (2) Wert ausschließen History (2) Wert ausschließen Philosophy (2) Wert ausschließen Romance studies (2) Wert ausschließen Germanic and Scandinavian studies (1) Wert ausschließen Theology and religious studies (1) Wert ausschließen Show more show less
> Creator Skip to next facet DIN Deutsches Institut für Normung e. V. (755) Wert ausschließen DIN German Institute for Standardization (755) Wert ausschließen ISO International Organization for Standardization (747) Wert ausschließen ISO Internationale Organisation für Normung (747) Wert ausschließen ISO Organisation Internationale de Normalisation (747) Wert ausschließen Aerospace Standards Committee (311) Wert ausschließen DIN-Normenausschuss Luft- und Raumfahrt (NL) (311) Wert ausschließen DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE (233) Wert ausschließen German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE (233) Wert ausschließen ISO/TC 172 Optics and photonics (216) Wert ausschließen ISO/TC 172 Optik und Photonik (216) Wert ausschließen ISO/TC 172 Optique et photonique (216) Wert ausschließen DIN-Normenausschuss Feinmechanik und Optik (NAFuO) (90) Wert ausschließen Optics and Precision Mechanics Standards Committee (90) Wert ausschließen CEI Commission Electrotechnique Internationale (52) Wert ausschließen IEC International Electrotechnical Commission (52) Wert ausschließen IEC Internationale Elektrotechnische Kommission (52) Wert ausschließen DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP) (40) Wert ausschließen Materials Testing Standards Committee (40) Wert ausschließen Bruzzone, P. (39) Wert ausschließen IULTCS International Union of Leather Technologists and Chemists Societies (37) Wert ausschließen ISO/TC 35 Lacke und Anstrichstoffe (35) Wert ausschließen ISO/TC 35 Paints and varnishes (35) Wert ausschließen ISO/TC 35 Peintures et vernis (35) Wert ausschließen Caspi, S. (34) Wert ausschließen Ferracin, P. (34) Wert ausschließen Barzi, E. (30) Wert ausschließen Ambrosio, G. (29) Wert ausschließen VDI - The Association of German Engineers (29) Wert ausschließen VDI Verein Deutscher Ingenieure e.V. (29) Wert ausschließen Feher, S. (28) Wert ausschließen Ghosh, A. (28) Wert ausschließen ISO/TC 6 Paper, board and pulps (28) Wert ausschließen ISO/TC 6 Papier, Pappe und Faserstoff (28) Wert ausschließen ISO/TC 6 Papiers, cartons et pâtes (28) Wert ausschließen Takahashi, Y. (28) Wert ausschließen Wanderer, P. (27) Wert ausschließen ISO/TC 45 Kautschuk und Kautschukerzeugnisse (26) Wert ausschließen ISO/TC 45 Rubber and rubber products (26) Wert ausschließen ISO/TC 45 Élastomères et produits à base d'élastomères (26) Wert ausschließen ISO/TC 61 Kunststoffe (26) Wert ausschließen ISO/TC 61 Plastics (26) Wert ausschließen ISO/TC 61 Plastiques (26) Wert ausschließen Okuno, K. (26) Wert ausschließen Ogitsu, T. (25) Wert ausschließen Orris, D. (25) Wert ausschließen Stepanov, B. (25) Wert ausschließen Bossert, R. (24) Wert ausschließen Andreev, N. (23) Wert ausschließen Tartaglia, M. (23) Wert ausschließen Tsuji, H. (23) Wert ausschließen ISO/TC 159 Ergonomics (22) Wert ausschließen ISO/TC 159 Ergonomie (22) Wert ausschließen Mito, T. (22) Wert ausschließen Wesche, R. (22) Wert ausschließen Ando, T. (21) Wert ausschließen Todesco, Ezio (21) Wert ausschließen Kato, T. (20) Wert ausschließen Novitski, I. (20) Wert ausschließen Yamamoto, A. (20) Wert ausschließen Zlobin, A.V. (20) Wert ausschließen Anerella, M. (19) Wert ausschließen Bruzzone, Pierluigi (19) Wert ausschließen Chlachidze, G. (19) Wert ausschließen Yoshida, K. (19) Wert ausschließen ISO/CEI JTC 1 Technologies de l'information (18) Wert ausschließen ISO/IEC JTC 1 ISO/IEC Joint Technical Commitee for Information Technology (18) Wert ausschließen ISO/IEC JTC 1 ISO/IEC-Gemeinschaftskomitee für Informationstechnik (18) Wert ausschließen Lamm, M. (18) Wert ausschließen Shimamoto, S. (18) Wert ausschließen Sylvester, C. (18) Wert ausschließen Felice, H. (17) Wert ausschließen Ricci, M. (17) Wert ausschließen Wu, Yu (17) Wert ausschließen Yamada, S. (17) Wert ausschließen ISO/TC 218 Bois (16) Wert ausschließen ISO/TC 218 Rund- und Schnittholz (16) Wert ausschließen ISO/TC 218 Timber (16) Wert ausschließen ISO/TC 94 Personal safety - Protective clothing and equipment (16) Wert ausschließen ISO/TC 94 Persönliche Sicherheit - Schutzkleidung und -ausrüstung (16) Wert ausschließen ISO/TC 94 Sécurité individuelle - Vêtements et équipements de protection (16) Wert ausschließen Scanlan, R. (16) Wert ausschließen Takahata, K. (16) Wert ausschließen Turrioni, D. (16) Wert ausschließen Devred, A. (15) Wert ausschließen ISO/TC 22 Road vehicles (15) Wert ausschließen ISO/TC 22 Straßenfahrzeuge (15) Wert ausschließen ISO/TC 22 Véhicules routiers (15) Wert ausschließen ISO/TC 42 Fotografie (15) Wert ausschließen ISO/TC 42 Photographie (15) Wert ausschließen ISO/TC 42 Photography (15) Wert ausschließen Isono, T. (15) Wert ausschließen Martovetsky, N. (15) Wert ausschließen Michel, Bernd (15) Wert ausschließen Nakajima, H. (15) Wert ausschließen Tanaka, K. (15) Wert ausschließen Todesco, E. (15) Wert ausschließen Yanagi, N. (15) Wert ausschließen Coatings and Coating Materials Standards Committee (14) Wert ausschließen DIN-Normenausschuss Beschichtungsstoffe und Beschichtungen (NAB) (14) Wert ausschließen Show more show less
> Collection Skip to next facet Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (CrossRef) (2.260) Wert ausschließen Elsevier BV (CrossRef) (872) Wert ausschließen Nautos (DIN-Normen) (755) Wert ausschließen Nautos (ISO-Normen) (747) Wert ausschließen Wiley (CrossRef) (420) Wert ausschließen SPIE (CrossRef) (383) Wert ausschließen Springer Science and Business Media LLC (CrossRef) (351) Wert ausschließen IOP Publishing (CrossRef) (252) Wert ausschließen American Physical Society (APS) (CrossRef) (105) Wert ausschließen Informa UK Limited (CrossRef) (105) Wert ausschließen Verbunddaten SWB (105) Wert ausschließen ASME International (CrossRef) (80) Wert ausschließen SPIE-Intl Soc Optical Eng (CrossRef) (77) Wert ausschließen Institute of Electronics, Information and Communications Engineers (IEICE) (CrossRef) (55) Wert ausschließen Optica Publishing Group (CrossRef) (53) Wert ausschließen Royal Society of Chemistry (RSC) (CrossRef) (43) Wert ausschließen Emerald (CrossRef) (41) Wert ausschließen American Chemical Society (ACS) (CrossRef) (38) Wert ausschließen MDPI AG (CrossRef) (38) Wert ausschließen The Optical Society (CrossRef) (38) Wert ausschließen The Magnetics Society of Japan (CrossRef) (37) Wert ausschließen IOS Press (CrossRef) (35) Wert ausschließen AIP Publishing (CrossRef) (29) Wert ausschließen Nautos (VDI-Normen) (29) Wert ausschließen Pleiades Publishing Ltd (CrossRef) (28) Wert ausschließen Trans Tech Publications, Ltd. (CrossRef) (27) Wert ausschließen Walter de Gruyter GmbH (CrossRef) (27) Wert ausschließen The Korean Institute of Metals and Materials (CrossRef) (21) Wert ausschließen Lizenzfreie Online-Ressourcen (20) Wert ausschließen American Vacuum Society (CrossRef) (18) Wert ausschließen The Institute of Electronics Engineers of Korea (CrossRef) (18) Wert ausschließen BASE - Bielefeld Academic Search Engine (16) Wert ausschließen Diss online (16) Wert ausschließen SAGE Publications (CrossRef) (15) Wert ausschließen DOAJ Directory of Open Access Journals (13) Wert ausschließen Institutional Repository of Leibniz Universität Hannover (13) Wert ausschließen Ovid Technologies (Wolters Kluwer Health) (CrossRef) (13) Wert ausschließen The Korea Institute of Applied Superconductivity and Cryogenics (CrossRef) (13) Wert ausschließen American Astronomical Society (CrossRef) (12) Wert ausschließen Hindawi Limited (CrossRef) (12) Wert ausschließen IMAPS - International Microelectronics Assembly and Packaging Society (CrossRef) (12) Wert ausschließen EDP Sciences (CrossRef) (11) Wert ausschließen The Electrochemical Society (CrossRef) (11) Wert ausschließen The Electromagnetics Academy (CrossRef) (9) Wert ausschließen Frontiers Media SA (CrossRef) (8) Wert ausschließen Sociedad Espanola de Optica (CrossRef) (8) Wert ausschließen ITMO University (CrossRef) (7) Wert ausschließen Medknow (CrossRef) (7) Wert ausschließen Tsinghua University Press (CrossRef) (7) Wert ausschließen AIP (CrossRef) (6) Wert ausschließen Allerton Press (CrossRef) (6) Wert ausschließen Copernicus GmbH (CrossRef) (6) Wert ausschließen Oxford University Press (OUP) (CrossRef) (6) Wert ausschließen Academic Journals (CrossRef) (5) Wert ausschließen American Society for Microbiology (CrossRef) (5) Wert ausschließen BMJ (CrossRef) (5) Wert ausschließen National Academy of Sciences of Ukraine (Co. LTD Ukrinformnauka) (CrossRef) (5) Wert ausschließen The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers (CrossRef) (5) Wert ausschließen American Institute of Aeronautics and Astronautics (AIAA) (CrossRef) (4) Wert ausschließen Association for Research in Vision and Ophthalmology (ARVO) (CrossRef) (4) Wert ausschließen Author(s) (CrossRef) (4) Wert ausschließen Cambridge University Press (CUP) (CrossRef) (4) Wert ausschließen Georg Thieme Verlag KG (CrossRef) (4) Wert ausschließen Institution of Engineering and Technology (IET) (CrossRef) (4) Wert ausschließen International Union of Crystallography (IUCr) (CrossRef) (4) Wert ausschließen JSTOR Life Sciences Archive (4) Wert ausschließen Japan Society of Mechanical Engineers (CrossRef) (4) Wert ausschließen Laser Institute of America (CrossRef) (4) Wert ausschließen American Geophysical Union (AGU) (CrossRef) (3) Wert ausschließen Korean Journal of Optics and Photonics (CrossRef) (3) Wert ausschließen National Academy of Sciences of Ukraine (Co. LTD Ukrinformnauka) (Publications) (CrossRef) (3) Wert ausschließen Nautos (DWA-Normen) (3) Wert ausschließen Photonics Society of Poland (CrossRef) (3) Wert ausschließen Polish Academy of Sciences Chancellery (CrossRef) (3) Wert ausschließen Politechnika Wroclawska Oficyna Wydawnicza (CrossRef) (3) Wert ausschließen World Scientific Pub Co Pte Lt (CrossRef) (3) Wert ausschließen Acoustical Society of America (ASA) (CrossRef) (2) Wert ausschließen Care Comm (CrossRef) (2) Wert ausschließen Fachkatalog Technikgeschichte (2) Wert ausschließen International Scientific Information, Inc. (CrossRef) (2) Wert ausschließen Laser Society of Japan (CrossRef) (2) Wert ausschließen Microbiology Society (CrossRef) (2) Wert ausschließen MyJove Corporation (CrossRef) (2) Wert ausschließen Portico (CrossRef) (2) Wert ausschließen Springer Berlin Heidelberg (CrossRef) (2) Wert ausschließen The Korean Astronomical Society (CrossRef) (2) Wert ausschließen The Royal Society (CrossRef) (2) Wert ausschließen Trans Tech Publications Ltd. (CrossRef) (2) Wert ausschließen AGHU University of Science and Technology Press (CrossRef) (1) Wert ausschließen AIP Publishing LLC (CrossRef) (1) Wert ausschließen AME Publishing Company (CrossRef) (1) Wert ausschließen Academy Publisher (CrossRef) (1) Wert ausschließen American Association for the Advancement of Science (AAAS) (CrossRef) (1) Wert ausschließen American Library Association (CrossRef) (1) Wert ausschließen American Medical Association (AMA) (CrossRef) (1) Wert ausschließen American Society of Hematology (CrossRef) (1) Wert ausschließen Atomic Energy Society of Japan (CrossRef) (1) Wert ausschließen Belarusian National Technical University (CrossRef) (1) Wert ausschließen CMV Verlag (CrossRef) (1) Wert ausschließen Canadian Institute of Forestry (CrossRef) (1) Wert ausschließen Show more show less