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  1. Bigalke, Steve [Author] ; Technische Universität Dresden

    Erhöhung der Elektromigrationsrobustheit in der Verdrahtung digitaler Schaltungen - [Als Manuskript gedruckt]

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    Düsseldorf: VDI-Verlag GmbH, [2020] ; Dresden: Technische Universität Dresden, Institut für Feinwerktechnik und Elektronik-Design, [2020]

    Published in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI / 20 ; 472

  2. Spence, Robert [Author]; Soin, Randeep Singh [Author]

    Tolerance design of electronic circuits

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    London: Imperial College Press, 1997