Skip to contents Schneider, Stefan [Author] ; Accurion GmbH "In-line Qualitätskontrolle von 200mm Graphen Wafern" : Schlussbericht zum Vorhaben : im Rahmen des Eurostars Projekts E! 10581 CMOS-GRAPH "Herstellung industrietauglicher Graphen-Wafern zur Verwendung in CMOS Prozessen" : Projektlaufzeit: 01.10.2016-31.03.2020 Books View online Schließen > Access ... to E-book via DOI (freely accessible) Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. [Goettingen]: [Accurion GmbH], [2020?] Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung, Accurion GmbH, Sentech Instruments GmbH Berlin "Standardisierung und Normung der Ellipsometrie als universeller Spektroskopie" : gemeinsamer Abschlussbericht WIPANO-Vorhaben : Acronym: SNELLIUS : Berichtszeitraum 01.10.2018-31.03.2021 Books View online Schließen > Access ... to E-book via DOI (freely accessible) Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. [Berlin]: [BAM], [2021?]
Schneider, Stefan [Author] ; Accurion GmbH "In-line Qualitätskontrolle von 200mm Graphen Wafern" : Schlussbericht zum Vorhaben : im Rahmen des Eurostars Projekts E! 10581 CMOS-GRAPH "Herstellung industrietauglicher Graphen-Wafern zur Verwendung in CMOS Prozessen" : Projektlaufzeit: 01.10.2016-31.03.2020 Books View online Schließen > Access ... to E-book via DOI (freely accessible) Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. [Goettingen]: [Accurion GmbH], [2020?]
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung, Accurion GmbH, Sentech Instruments GmbH Berlin "Standardisierung und Normung der Ellipsometrie als universeller Spektroskopie" : gemeinsamer Abschlussbericht WIPANO-Vorhaben : Acronym: SNELLIUS : Berichtszeitraum 01.10.2018-31.03.2021 Books View online Schließen > Access ... to E-book via DOI (freely accessible) Close > Bookmarks You can manage bookmarks using lists, please log in to your user account for this. [Berlin]: [BAM], [2021?]
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