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  1. Thien, Volker [Editor] ; Arbeitskreis Rastermikroskopie in der Materialprüfung

    Mikrostrukturelle und mikroanalytische Charakterisierung in Werkstoffentwicklung und Qualitätssicherung : Jubiläumsveranstaltung zum 20jährigen Bestehen des Arbeitskreises vom 25. bis 27. April 1990, Vorträge

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    Berlin: DVM, 1990

    Published in: Arbeitskreis Rastermikroskopie in der Materialprüfung: Vortragsveranstaltung des Arbeitskreises Rastermikroskopie in der Materialprüfung ; 14