Mikrostrukturelle und mikroanalytische Charakterisierung in Werkstoffentwicklung und Qualitätssicherung: Jubiläumsveranstaltung zum 20jährigen Bestehen des Arbeitskreises vom 25. bis 27. April 1990, Vorträge

Media type: Book; Conference Proceedings
Title: Mikrostrukturelle und mikroanalytische Charakterisierung in Werkstoffentwicklung und Qualitätssicherung : Jubiläumsveranstaltung zum 20jährigen Bestehen des Arbeitskreises vom 25. bis 27. April 1990, Vorträge
Contributor: Thien, Volker [Editor]
Corporation: Arbeitskreis Rastermikroskopie in der Materialprüfung
Published: Berlin: DVM, 1990
Published in: Arbeitskreis Rastermikroskopie in der Materialprüfung: Vortragsveranstaltung des Arbeitskreises Rastermikroskopie in der Materialprüfung ; 14
Extent: 368 S.; zahlr. Ill. und graph. Darst
Language: German
Keywords: Werkstoff > Mikrostruktur
Werkstoffprüfung > Rastermikroskopie
Rastermikroskopie > Werkstoffprüfung > Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung
Origination:
Footnote: Literaturangaben

Mikrostrukturelle und mikroanalytische Charakterisierung in Werkstoffentwicklung und Qualitätssicherung