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  1. Negara, Christian Emanuel [Author] ; Beyerer, J. [Degree supervisor]; Lemmer, Uli [Degree supervisor]

    Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen

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    Karlsruhe: KIT Scientific Publishing, 2023

    Published in: Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung ; 21

  2. Negara, Christian Emanuel [Author]

    Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen

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    Karlsruhe: KIT Scientific Publishing, [2023]

    Published in: Schriftenreihe automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung ; 21

  3. Negara, Christian Emanuel [Author]

    Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen

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    [Erscheinungsort nicht ermittelbar]: KIT Scientific Publishing, 2023

    Published in: Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung