Media type: E-Book Title: Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen Contributor: Negara, Christian Emanuel [Author]; Beyerer, J. [Degree supervisor]; Lemmer, Uli [Degree supervisor] Published: Karlsruhe: KIT Scientific Publishing, 2023 Published in: Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung ; 21 Extent: Online-Ressource Language: German DOI: 10.5445/KSP/1000158762 Identifier: Keywords: Ellipsometrie ; Oberfläche ; Technische Oberfläche ; Freiformfläche ; Müller-Matrix ; gekrümmte Oberfläche ; Messtechnik ; Retroreflexion ; bildgebend ; ellipsometry ; curved surface ; metrology ; retroreflection ; imaging Origination: University thesis: Dissertation, Karlsruhe, Karlsruher Institut für Technologie (KIT), 2023 Footnote: Access State: Open Access