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  1. Sattler, Sebastian [Other] ; Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik, Informationstechnische Gesellschaft, Tagung Zuverlässigkeit und Entwurf 2008 Ingolstadt

    Zuverlässigkeit und Entwurf : 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 29. September bis 1. Oktober 2008 in Ingolstadt

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    Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 2008

    Published in: Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik: GMM-Fachbericht ; 57

  2. Bigalke, Steve [Author] ; Technische Universität Dresden

    Erhöhung der Elektromigrationsrobustheit in der Verdrahtung digitaler Schaltungen - [Als Manuskript gedruckt]

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    Düsseldorf: VDI-Verlag GmbH, [2020] ; Dresden: Technische Universität Dresden, Institut für Feinwerktechnik und Elektronik-Design, [2020]

    Published in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI / 20 ; 472

  3. Dietrich, Manfred [Editor] ; Informationstechnische Gesellschaft, Informationstechnische Gesellschaft, Gesellschaft für Informatik, Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik, Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf 2013 Dresden

    Zuverlässigkeit und Entwurf : 7. ITG/GI/GMM-Fachtagung vom 24. bis 26. September 2013 in Dresden - [Online-Ressource]

    Electronic Resources
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    Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 2013

    Published in: Informationstechnische Gesellschaft: ITG-Fachbericht ; 24400

  5. Dietrich, Manfred [Editor] ; Informationstechnische Gesellschaft, Informationstechnische Gesellschaft, Gesellschaft für Informatik, Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik, Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf 2013 Dresden

    Zuverlässigkeit und Entwurf : 7. ITG/GI/GMM-Fachtagung vom 24. bis 26. September 2013 in Dresden

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    Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 2013

    Published in: Informationstechnische Gesellschaft: ITG-Fachbericht ; 244,buch

  6. Ayala, José L. [Editor]; García-Cámara, Braulio [Other]; Prieto, Manuel [Other]; Ruggiero, Martino [Other]; Sicard, Gilles [Other] ; PATMOS 21 2011 Madrid

    Integrated circuit and system design : power and timing modeling, optimization, and simulation ; 21st international workshop, PATMOS 2011, Madrid, Spain, September 26 - 29, 2011 ; proceedings

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    Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2011

    Published in: Lecture notes in computer science ; 6951

  12. ZuE 2017 Cottbus, Informationstechnische Gesellschaft, Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik, Gesellschaft für Informatik

    Reliability by Design : 9. ITG/GMM/GI-Symposium : 18-20 Sept. 2017 = Zuverlässigkeit und Entwurf

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    [Frankfurt am Main]: VDE, 2017

  16. Wetzstein, Olaf [Author] ; Töpfer, Hannes [Degree supervisor]; Seidel, Paul [Degree supervisor]; Weides, Martin [Degree supervisor]

    Methoden zur Verbesserung der Funktionsstabilität digitaler Elektronik mit niedriger Schaltenergie

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    Ilmenau: Universitätsbibliothek Ilmenau, 2011