Media type: E-Book; Conference Proceedings Title: ZuE 2015 : 8. GMM/ITG/GI-Symposium Reliability by Design : 21-23 Sept. 2015 Corporation: Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik ; Informationstechnische Gesellschaft ; Gesellschaft für Informatik imprint: [Piscataway, NJ]: IEEE, 2015 Extent: 1 Online-Ressource Language: English RVK notation: ZN 3080 : Rechnergestützter Entwurf in der Elektrotechnik allgemein ZN 4040 : Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente und Geräte Keywords: Entwurfsautomation > Zuverlässigkeit > Eingebettetes System Origination: Footnote: Literaturangaben Title from content provider