Media type: Book; Thesis Title: Mehrfach-Literalfehler in logischen Funktionen und Verfahren zur Testerzeugung für Schaltnetze Contributor: Chen, Yongzhang [Author] imprint: Düsseldorf: VDI-Verlag, 1984 Published in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschrittberichte der VDI-Zeitschriften / 10 ; 36 Issue: Als Ms. gedr Extent: XI, 116 S; graph. Darst Language: German ISBN: 3181436100 Keywords: Fehlererkennung > Digitalschaltung Origination: University thesis: Zugl.: Karlsruhe, Univ., Diss., 1984 Footnote: Als Ms. gedr
Central Library – stack Shelf-mark: 20 4 01351 036 01 0 1 Item ID: 32510476 Status: Loanable, place order > Ordering possible ‒ please log in Orders received from Mon - Fri by 1 pm are expected to be ready for you on the same day.