Einheitliches Modell zur Beschreibung der Generations- und Ausheilprozesse von Oxidladungen Qot und Grenzflächenzuständen Dit im Siliziumdioxid durch Stress
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Media type:
Book;
Thesis
Title:
Einheitliches Modell zur Beschreibung der Generations- und Ausheilprozesse von Oxidladungen Qot und Grenzflächenzuständen Dit im Siliziumdioxid durch Stress