Media type: Book; Thesis Title: Anwendung der orientierungsabbildenden Mikroskopie auf die Mikrostrukturentwicklung in dünnen Schichten Contributor: Greiser, Jens [Author] imprint: Stuttgart: Max-Planck-Inst. f. Metallforschung, 1999 Published in: Max-Planck-Institut für Metallforschung: Bericht ; 83 Extent: VI, 143 S.; Ill., graph. Darst Language: German Keywords: Metallschicht > Dünne Schicht > Texturanalyse > Ionenmikroskopie Silber > Dünne Schicht > Kornwachstum Metallschicht > Dünne Schicht > Sekundärionen-Massenspektrometrie > Rasterelektronenmikroskopie > Texturanalyse Origination: University thesis: Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 1999 (Nicht für den Austausch) Footnote:
Departmental Library DrePunct – open access area Shelf-mark: ZM 1610-83 Item ID: 30438765 Status: Loanable