Mustererkennung: proceedings ; DAGM-Symposium

Media type: Journal; Conference Proceedings
Title: Mustererkennung : proceedings ; DAGM-Symposium
Other titles: Zusatz teils: DAGM-ÖAGM-Symposium
Corporation: Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung ; Österreichische Computer Gesellschaft, Arbeitskreis für Mustererkennung
imprint: Berlin; Heidelberg; New York, NY; Barcelona; Hongkong; London; Mailand; Paris; Singapur; Tokio: Springer, 1983-2000
Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 1983
Publication information: Nachgewiesen 5.1983; [6.]1984; 7.1985 - 22.2000
Language: German; English
RVK notation: ST 330 : Bildverarbeitung und Mustererkennung
Keywords: Mustererkennung
Origination:
Footnote: Beteil. Körp. teils: Österreichische Computer-Gesellschaft, Arbeitskreis für Mustererkennung
Ersch. jährl
Beitr. teilw. dt., teilw. engl

References

[6]=87; 7=107; 8=125; 9=149; 10=180; 11=219; 12=254; 13=290 von:
Informatik-Fachberichte (SLUB)

show less

Förstner, Wolfgang [Other]
21: Mustererkennung 21 21. DAGM-Symposium, Bonn, 15. - 17. September 1999
Berlin; Heidelberg; New York, NY; Barcelona; Hongkong; London; Mailand; Paris; Singapur; Tokio: Springer, 1983-2000 ; Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 1983

Fuchs, Siegfried [Other]
14: Mustererkennung 14 14. DAGM-Symposium, Dresden, 14. - 16. September 1992 / S. Fuchs ... (Hrsg.)
Berlin; Heidelberg; New York, NY; Barcelona; Hongkong; London; Mailand; Paris; Singapur; Tokio: Springer, 1983-2000 ; Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 1983

Großkopf, Rudolf E. [Editor]
12: Mustererkennung 12 12. DAGM-Symposium, Oberkochen-Aalen, 24. - 26. September 1990, proceedings / R. E. Großkopf (Hrsg.)
Berlin; Heidelberg; New York, NY; Barcelona; Hongkong; London; Mailand; Paris; Singapur; Tokio: Springer, 1983-2000 ; Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 1983

11: Mustererkennung 11 Hamburg, 2.-4. Oktober 1989
Berlin; Heidelberg; New York, NY; Barcelona; Hongkong; London; Mailand; Paris; Singapur; Tokio: Springer, 1983-2000 ; Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 1983

10: Mustererkennung 10 Zürich, 27. - 29. September 1988
Berlin; Heidelberg; New York, NY; Barcelona; Hongkong; London; Mailand; Paris; Singapur; Tokio: Springer, 1983-2000 ; Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 1983

9: Mustererkennung 9 Braunschweig, 29.9. - 1.10.1987
Berlin; Heidelberg; New York, NY; Barcelona; Hongkong; London; Mailand; Paris; Singapur; Tokio: Springer, 1983-2000 ; Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 1983

Hartmann, Georg [Other]
8: Mustererkennung 8 Paderborn, 30. Sept. - 2. Okt. 1986
Berlin; Heidelberg; New York, NY; Barcelona; Hongkong; London; Mailand; Paris; Singapur; Tokio: Springer, 1983-2000 ; Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 1983

Kropatsch, Walter G. [Other]
[6]: Mustererkennung [6] Graz, 2. - 4. Okt. 84
Berlin; Heidelberg; New York, NY; Barcelona; Hongkong; London; Mailand; Paris; Singapur; Tokio: Springer, 1983-2000 ; Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 1983

5: Mustererkennung 5 11. - 13 Oktober 1983 in Karlsruhe
Berlin; Heidelberg; New York, NY; Barcelona; Hongkong; London; Mailand; Paris; Singapur; Tokio: Springer, 1983-2000 ; Berlin; Offenbach: VDE-Verl., 1983