Media type: Book; Thesis Title: Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen Contributor: Jacomet, Marcel [Author] Published: Konstanz: Hartung-Gorre, 1991 Published in: Series in microelectronics ; 8 Issue: 1. Aufl. Extent: XIII, 271 S.; graph. Darst Language: German ISBN: 3891913958 RVK notation: ZN 4960 : MOS-, MIS-Schaltungen (hier auch CTD-Schaltungen; Eimerkettenschaltungen; CMOS-Schaltungen...) UX 2350 : Mikroelektronik Keywords: CMOS-Schaltung > Fehleranalyse > Testmustergenerierung Origination: University thesis: Zugl.: Zürich, Techn. Hochsch., Diss., 1990 Footnote:
Departmental Library DrePunct – stack Shelf-mark: 0992 01638 001 Item ID: 32541017 Status: Loanable, place order > Ordering possible ‒ please log in Delivery expected: 1 - 2 days after order