Media type: Book; Thesis Title: Streulicht- und ellipsometrische Messungen mit hoher lateraler Auflösungunter endlicher Messapertur Contains: Literaturverz. S. 119 - 123 Contributor: Franz, Gerald [Author] imprint: Berlin: Techn. Univ., Univ.-Bibliothek, Abt. Publ., 2002 Published in: Berichte der technischen Optik ; 38 Extent: 131 S.; Ill., graph. Darst Language: German ISBN: 3798318964 RVK notation: UP 8300 : Optische Eigenschaften verunreinigter Kristalle, Farbzentren incl. Absorption, Reflexion, Ellipsometrie Keywords: Nephelometrie > Ellipsometrie > Oberflächenstruktur Origination: University thesis: Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 2002 Footnote:
Central Library – stack Shelf-mark: 2008 8 035032 Item ID: 31564618 Status: Loanable, place order > Ordering possible ‒ please log in Orders received from Mon - Fri by 1 pm are expected to be ready for you on the same day.