Media type: Book Title: Defect and microstructure analysis by diffraction Contributor: Snyder, Robert L. [Other]; Fiala, Jaroslav [Other]; Bunge, Hans-Joachim [Other] imprint: Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Press, 2005 Published in: Internationale Union für Kristallographie: IUCr monographs on crystallography ; 10 Issue: Repr. Extent: XXII, 785 S.; graph. Darst Language: English ISBN: 0198501897 RVK notation: UQ 5600 : Röntgenspektroskopie, -mikroskopie, Röntgenfluoreszenzspektroskopie und Analyse Keywords: Kristall > Gitterbaufehler > Röntgendiffraktometrie Röntgendiffraktometrie > Gitterbaufehler > Mikrostruktur Origination: Footnote: Includes index