Media type: Book; Thesis Title: Herstellung und Untersuchung von Halbleiterbauelementen mit dem Rasterkraftmikroskop Contributor: Wendel, Martin [Author] imprint: München: Diss.-Verl. NG-Kopierladen, 1997 Extent: 94 S.; Ill., graph. Darst Language: German ISBN: 3928536729 RVK notation: ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente Keywords: Halbleiterbauelement > Rasterkraftmikroskopie Origination: University thesis: Zugl.: München, Univ., Diss., 1996 Footnote:
Departmental Library DrePunct – stack Shelf-mark: 1997 8 022989 001 Item ID: 10360443 Status: Loanable, place order > Ordering possible ‒ please log in Delivery expected: 1 - 2 days after order