Media type: Book Title: Advanced scanning electron microscopy and x-ray microanalysis Contributor: Newbury, Dale E. [Editor]; Joy, David C. [Other]; Echlin, Patrick [Other]; Fiori, Charles E. [Other]; Goldstein, Joseph I. [Other] Published: New York [u.a.]: Plenum Press, 1986 Extent: XII, 454 S., [4] Bl; Ill., graph. Darst Language: English ISBN: 0306421402 RVK notation: UH 6310 : Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines UH 6300 : Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines Keywords: Rasterelektronenmikroskopie Röntgenmikroskopie Rasterelektronenmikroskopie Origination: Footnote: Bibliography: p435-448. - Includes index