Media type: E-Book; Conference Proceedings Title: OCM 2019 : 4th International Conference on Optical Characterization of Materials : March 13th - 14th, 2019 : Karlsruhe, Germany Contributor: Beyerer, Jürgen [HerausgeberIn]; Puente León, Fernando [HerausgeberIn]; Längle, Thomas [HerausgeberIn] Corporation: Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung ; Karlsruher Institut für Technologie imprint: Karlsruhe: KIT Scientific Publishing, [2019] Extent: 1 Online-Ressource (134 Seiten, 46,13 MB); Illustrationen, Diagramme Language: English DOI: 10.5445/KSP/1000087509 Identifier: Keywords: Materialcharakterisierung > Spektroskopie Origination: Footnote: Access State: Open Access