• Media type: E-Book
  • Title: Moderne Röntgenbeugung : Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker
  • Contributor: Spieß, Lothar [VerfasserIn]; Teichert, Gerd [VerfasserIn]; Schwarzer, Robert [VerfasserIn]; Behnken, Herfried [VerfasserIn]; Genzel, Christoph [VerfasserIn]
  • imprint: Wiesbaden: Springer Spektrum, [2019]
  • Published in: Springer eBooks ; Life Science and Basic Disciplines
    Springer eBook Collection
  • Issue: 3., überarbeitete Auflage
  • Extent: 1 Online-Ressource (XVI, 635 Seiten); Illustrationen, Diagramme
  • Language: German
  • DOI: 10.1007/978-3-8348-8232-5
  • ISBN: 9783834882325
  • Identifier:
  • RVK notation: UQ 5100 : Lehrbücher der Kristallstrukturbestimmung und Röntgenographie
    VG 9900 : Allgemeines
  • Keywords: Röntgenbeugung
  • Origination:
  • Footnote:
  • Description: Einleitung -- Erzeugung und Eigenschaften von Röntgenstrahlung -- Beugung von Röntgenstrahlung -- Hardware für die Röntgenbeugung -- Methoden der Röntgenbeugung -- Phasenanalyse -- Zellparameterbestimmung -- Mathematische Beschreibung von Röntgenbeugungsdiagrammen -- Kristallstrukturanalyse -- Röntgenographische Spannungsanalyse -- Röntgenographische Texturanalyse -- Bestimmung der Kristallorientierung -- Untersuchungen an dünnen Schichten -- Spezielle Verfahren -- Komplexe Anwendung -- Zusammenfassung -- Lösung der Aufgaben

    Das Buch bietet einen umfassenden Überblick über die Anwendungen der Röntgenbeugung in Gebieten wie Werkstofftechnik, Metallurgie, Elektrotechnik, Maschinenbau sowie Mikro- und Nanotechnik. Die nötigen Grundkenntnisse der Röntgenbeugung werden fundiert und anschaulich vermittelt. Dabei werden neue Techniken und Auswerteverfahren ebenso dargestellt wie altbekannte Methoden. Der Inhalt Erzeugung und Eigenschaften von Röntgenstrahlung – Beugung von Röntgenstrahlung – Hardware für die Röntgenbeugung – Methoden der Röntgenbeugung – Qualitative und quantitative Phasenanalyse – Zellparameterbestimmung – Röntgenprofilanalyse – Kristallstrukturanalyse – Röntgenografische Spannungsanalyse – Röntgenografische Texturanalyse – Kristallorientierungsbestimmung – Besonderheiten bei dünnen Schichten – Spezielle Verfahren – Komplexe Anwendungen - Übungsaufgaben Die Zielgruppen Studierende der Materialwissenschaft, Physik und Chemie an Universitäten, Hochschulen und Fachhochschulen Anwender in der Industrie Die Autoren Prof. Dr. Lothar Spieß, TU Ilmenau Dr. Gerd Teichert, MFPA Weimar Prof. Dr. Robert Schwarzer, TU Clausthal Dr. Herfried Behnken, Access e.V. Aachen Prof. Dr. Christoph Genzel, Helmholtz-Zentrum Berlin