Media type: Book; Thesis Title: Investigation of nanometer scale charge carrier density variations with scattering-type scanning near-field microscopy in the THz regime Contributor: Kuschewski, Frederik [VerfasserIn] Corporation: Technische Universität Dresden imprint: Dresden, 16.Juli 2019 Extent: 195 Seiten; Illustrationen, Diagramme; 31 cm Language: English RVK notation: UH 6315 : Spezielle Verfahren (Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskopie, Rasterelektronenmikroskopie unter Umgebungsbedingungen, in situ Rasterelektronenmikroskopie Keywords: Halbleiter > Germanium > Graphen > Ladungsträger > Rastersondenmikroskopie Origination: University thesis: Dissertation, Technische Universität Dresden, 2019 Footnote: Das Erscheinungsdatum ist der Tag der Verteidigung Sprache der Kurzfassung: Englisch, Deutsch
Central Library – stack Shelf-mark: 2020 4 003771 Item ID: 33408999 Status: Place order for use in library, no dispatch by interlibrary loan; delivery of photocopies possible > Ordering possible ‒ please log in Orders received from Mon - Fri by 1 pm are expected to be ready for you on the same day.