Media type: E-Book; Special Print Title: Failure stress of epitaxial silicon thin films Contributor: Käsewieter, Jörg [VerfasserIn]; Kajari-Schröder, Sarah [VerfasserIn]; Niendorf, Thomas [VerfasserIn]; Brendel, Rolf [VerfasserIn] imprint: Hannover: Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover, 2013 Hannover: Technische Informationsbibliothek (TIB), 2013 Published in: Energy Procedia ; 38 (2013), S. 926-932 Extent: 1 Online-Ressource Language: English DOI: 10.15488/1001 Identifier: Origination: Footnote: Access State: Open Access