Media type: Book Title: Sehen heißt wissen : das Rasterelektronenmikroskop im Fehleranalyselabor Contains: Literaturangaben Contributor: Eckert, Richard [Author] imprint: Stuttgart: Kurz, 1998 Issue: 1. Aufl. Extent: 182 S; zahlr. Ill Language: German ISBN: 3893010815 RVK notation: UH 6310 : Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines Keywords: Rasterelektronenmikroskop Origination: Stuttgart: Kurz Footnote:
Departmental Library DrePunct – open access area Shelf-mark: UH 6310 E19 Item ID: 31000878 Status: Loanable
Central Library – open access area Shelf-mark: UH 6310 E19 Item ID: 30454086 Due date: 2024/06/24 Status: On loan, place hold > Reservation possible ‒ please log in