Media type: Book; Conference Proceedings Title: Scanned probe microscopy : Santa Barbara, CA 1991 Contributor: Wickramasinghe, H. Kumar [Editor] Published: New York: AIP, 1992 Published in: American Institute of Physics: AIP conference proceedings ; 24100 Extent: X, 563 S.; Ill., graph. Darst Language: English ISBN: 0883188163 RVK notation: UH 6310 : Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines Keywords: Rastertunnelmikroskopie Origination: Footnote: