Media type: Book Title: Scanning force microscopy : with applications to electric, magnetic, and atomic forces Contains: Literaturverz. S. 231 - 249 Contributor: Sarid, Dror [Author] imprint: New York, N.Y. [u.a.]: Oxford Univ. Press, 1991 Published in: Oxford series on optical sciences ; 2 Extent: XI, 253 S.; graph. Darst Language: English ISBN: 0195062701 RVK notation: UH 6310 : Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines UH 6700 : Instrumentelle Optik und Physik optischer Instrumente insgesamt, Allgemeines Keywords: Rastertunnelmikroskopie Rasterkraftmikroskopie Origination: Footnote:
Departmental Library DrePunct Shelf-mark: UH 6310 S245 Item ID: 32988059 Status: Verfügbarkeit bitte in Prof Materialwissenschaft Nanotechnik erfragen.