Media type: Book Title: Handbook of modern ion beam materials analysis Contributor: Tesmer, Joseph R. [Hrsg.] Corporation: Materials Research Society imprint: Pittsburgh, Penn.: Materials Research Society, 1995 Extent: VII, 704 S.; Ill., graph. Darst Language: English ISBN: 1558992545 RVK notation: UP 9350 : Ionenimplantation allgemein, Etching, Sputtering UP 9300 : Stoßprozesse von Elektronen, Ionen oder Molekülen an Festkörpern, Sekundärionenemissionsspektroskopie Keywords: Festkörper > Analyse > Ionenstrahl Sekundärionen-Massenspektrometrie Ionenstrahlanalyse Origination: Footnote: Literaturangaben
Central Library Shelf-mark: UP 9350 T337 Item ID: 10376814 Status: Verfügbarkeit bitte in Prof Strahlenphysik erfragen.