Media type: Book; Thesis Title: Charakterisierung von Nanometerstrukturen mit III-V-Halbleitern Parallel title: (Characterisation of nanometer structures on III-V-semiconductor materials) Contributor: Ichizli, Victoria [Author] imprint: Aachen: Shaker, 1999 Published in: Berichte aus der Elektrotechnik Issue: Als Ms. gedr. Extent: VII, 177 S; Ill., graph. Darst; 21 cm Language: English ISBN: 3826565312 RVK notation: UP 3150 : Strukturierte Halbleiter, Mehrlagenschichten, Supergitter, Heterostrukturen und Quantentröge, Quantum wells Keywords: Drei-Fünf-Halbleiter > Nanostruktur > Rastertunnelmikroskopie > Rasterkraftmikroskopie Origination: University thesis: Zugl.: Darmstadt, Techn. Univ., Diss., 1999 Footnote:
Departmental Library DrePunct – open access area Shelf-mark: UP 3150 I16 Item ID: 10087115 Status: Loanable