Media type: Book Title: Advances in scanning probe microscopy Contains: Literaturangaben Contributor: Sakurai, Toshio [Editor]; Watanabe, Yousuke [Other] Published: Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2000 Published in: Advances in materials research ; 2 Extent: XIV, 341 S; Ill., graph. Darst Language: English ISBN: 3540667180 RVK notation: UH 6300 : Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines UH 6310 : Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines Keywords: Rastersondenmikroskopie Rastermikroskopie Origination: Footnote: